【电子行业标准(SJ)】 半导体分立器件3DK457型功率开关晶体管详细规范

中华人民共和国电子行业军用标准FL5961
SJ50033/163—2003
半导体分立器件
3DK457型功率开关晶体管
详细规范
Semiconductordiscretedevice
Detailspecificationoftype3DK457forpowerswitchingtransistors2003-12-15发布
2004-03-01实施
中华人民共和国信息产业部批准前
本规范是GJB33A一97《半导体分立器件总规范》的相关详细规范。本规范附录A是规范性附录。
本规范由信息产业部电子第四研究所归口。本规范起草单位：国营第八七三厂。本规范主要起草人：邹盛琳、黎建华。SJ50033/163—2003
半导体分立器件
3DK457型功率开关晶体管详细规范本规范规定了3DK457型功率开关晶体管(以下简称器件)的详细要求。2引用文件
SJ50033.163—2003
下确文件中的有关条款通过引用而成为本规范的条款。凡注日期或版次的引用文件，其后的任何修改单（不包括勘误的内容）或修订版本不适用于本规范，但提倡使用本规范的各方探讨使用其最新版本的可能性。凡不注日期或版次的引用文件，其最新版本适用于本规范。GBT4587—94半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管GJB12300—90功率品体管安全T作区测试方法GJB33A一97半导体分立器件总规范GJB128.A—97半导体分立器件试验方法3要求
3.1总则
3DK457型功率开关晶体管应符合本规范和GJB33A一97规定的所有要求。本规范的要求与总规范不一致时，应以本规范为准。
3.2设计、结构和外形尺寸
3.2.1概述
器件的设计和结构应按GJB33A97和本规范的规定：3.2.2引出端材料和镀涂层
引出端两根引线材料为可伐，引出端表面为锡或镍3.2.3器件结构
采用外延平面结均，管芯与底席之间采用高温熔焊键合。3.2.4外形尺寸
外形质寸应符合本规范的规定（见图1），SJ50033/163--2003
引出端排列：1-其极
2.发射极
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最大额定值
最大额定值见表1。
T=25℃
管壳-集电极
外形尺寸
1当Tc>25℃C时，按0.1W/℃的速率线性地降额。3.3.2主要电特性
主要电特性（T=25℃）见表2。
VcE=3V
最小值
最大值
VcEsat
VBEsaril
Ig=0.033A
最大值
最大额定值
主要电特性
尺寸符号
Ic=1A lBi=0.1A
Ig2=-0.1A
'cc25V
最大值
·分档：黄：30~75、绿：70~120、色点位置在管帽顶端。
单位为老米
-55~125
Yce=10V
J=10MHz
最小值
Ranig-e
VcE=20V
最人值
-55~175
I'cB=IcBo
最人值
3.4电测试要求
电测试应符合GB/T4587—94及本规范的规定3.5标志
SJ50033/163—2003
标志应符合GJB33A-97及本规范的规定。省略GJB33A-97中3.7.1的c、d、g、h、i项。4质量保证规定
抽样和检验
抽样和检验应符合GJB33A一97及本规范的规定。4.2鉴定检验
4.2.1概述
鉴定检验应按GJB33A—97及本规范的规定。4.2.2E组检验（仅供鉴定）
E组检验应按GJB33A一97及本规范表7的规定。4.3筛选（仅对JT和JCT级）
筛选应按GJB33A一97中表？和本规范表3的规定，其测试应按本矩范表4的规定进行，超过本规范表+极限值的器件应予别除。表3
筛选要求
筛选项目
【内部日检（封帽前）
2、高温寿命
3温度情环
（室气一空气）
4恒定加速度
拉子碰撞赚声检测
(PIND)
8编序列号
10高温反偏
11PDA中间电参数测试
12功率老炼
13终点测试
PDA中间电参数测试和电
参效变化量
14密封
细检漏
(b）粗检漏
16外观检查
试验方法号
GJB128A—97
GB.T 4587—94
6、9、15项不要求，第7、9项不适用。仅对JCT级
TA=175℃
试验条件G
次数：20次
Ie=20V
Rb≤10K/W
YI方向98000ms，保持1min的要求不适用试验条件A
试验条件ATA=150℃VcB=0.8VcB01=48h按本规范表4的A2分组规定测试IcB01+hFE1并记录数据试验条件B
Te=75t3c
Ice=20V
[=168h
按本规范表4的A2分组规定
【>cB0m|≤初始值的100%或50uA，取较太者，【h|≤切始值的25%
PDA≤10°
试验条件Hl：压为517kPa
L≤5X10\Pa*cms
试验条件C：乐力517kPa
打标志后进行
SJ50033/163—2003
4.4质量一致性检验
4.4.1概述
质量一致性检验应按GJB33A--97和本规范的规定。所进行的检验应符合本规范规定的A、B、C和D组（适用时）检验。
2A组检验
A组检验应按GJB33A-97和本规范表4的规定进行。4.4.3B组检验
B组检验应按GJB33A一97和本规范表5的规定进行。4.4.4C组检验
C组检验应按GJB33A一97和本规范表6的规定进行5D组检验（不适用）
4.5检验和试验方法
检验和试验方法应按本规范相应的表和下列规定进行，脉冲测试条件按GJB128A一97中4.3.2.2的规定，tu=0.3ms，D≤2%。
检验或试验
1分组
外观及机械检验
2分组
集电极一发射极
击穿电压
变射极一基极
击穿电压
集电极一基极
截止电流
集电极一发射极
饱和电压
基极一发射极
途和电池
正同电流传输比
3分组
高温工作
集电极一基极
截止电流
低温工作
正向电流传输比变化率
4分组
开通时间
存储时间
下降时间
特征频率
5分组
安全工作区
（直流）
试验1
试验2
试验3
终点测试
表4A组检验
GB/T4587—94中第V章
GJB128A—97免费标准下载网bzxz
GJB128A—97
第1节10.2
第1节2.1
第1节4.2
图1的Ui、U、9、A
TA=25℃
发射极一基极开路
lc=2mA（脉冲法）
集电极一基极开路
le=3mA
发射极开路IcB=IcBO
lg=0.033A（脉冲法）
见本规范附录A|lc=1A
第1节9.6
第1节2.1
第1节9.6
第1节12
第1节12
第1节12
第1节13.2
GB12300—90
=0.033A（脉冲法）
Ice=3VIc=IA(脉冲法)
TA=125℃±5℃
发射极开路
IcB=0.7IcBO
TA=-40℃
IcE=3Vlc=1A（脉冲法）
Icc=25V lc=1A
Igl=-/B2=0.1 A
Icc=25V le=1A
/gl=-/g2=0.1A
I'cc=25 V lc=1A
Is;=-l:=0.1 A
IcE=10 V I=0.5A
f=10MHz
Te=25℃
{=1s单次
IcE=10 V Ic=1.5A
IcE=20Vlc=0.75A
Ice=200V Ic=4mA
按表8步骤1和3
当检验批的批量少于抽样数时，则100%进行A组检验。6、7分组不适用
ahFEi分档：黄：30~75.绿：70~120。抽样方案
LTPD=5
LTPD=5
SJ50033/163---2003
极限值
最小最大
V·BRCEO
I'BREBO
IcEsan
I'BEsat
SJ50033/163---2003
检验或试验
1分组
可焊性
耐溶剂性
2分组
温度循环
（空气一空气）
(a)细检漏
(b)粗检漏
终点测试
3分组
稳态工作寿命
键合强度
终点测试
4分组
开幅帽内部目检
（设计核实）
6分组
高温寿命
（非工作状态）
终点测试
7分组
恒定加速度
粒子碰撞噪声
检测（PIND）
终点测试
5分组不适用。
GJB128A—97
省略预处理
温度：245℃±5℃
时间：5s±0.5s
至少应试3只器件
试验条件G
次数：25次
试验条件HI
压力517kPa1=4h
最大漏率：
表5B组检验
鉴定检验和大批量的质
L≤5×10°Pa*cm/s
试验条件C
乐力517kPa/=2h
按表8步骤1和3
Te759c
Vce=20V
lc=0.5At=340h
试验条件A
按表8步骤2和4
样品从规定的试验条件取出4h~
96h内进行测试，当测试结果有争议时，以96h测试为准
按设计要求
TAa=175℃
1=340h
同B3分组
加速度：98000m/s
时间：1min
方向：X1、Y1、Z1每个方向
试验条件A
按表8步骤1和2
量一致性检验抽样方案
LTPD=15
LTPD=10
LTPD=5
LTPD=7
LTPD=10
小批量的质量一致性检验
检验或试验
1分组
物理尺寸
2分组
热冲击
(液体一液体）
引出端强度
a）细检凝
b）粗检漏
外观检企
终点测试
3分组
频振动
恒定加速度
终点测试
6分组
稳态工作寿命
终点测试
4、5分组不适用。
检验或试验
1分组
温度循环（空气一空气）
终点测试
4分组
2、3、5分组不适用。
表6C组检验
GJB 128A—97
试验条件A
次数：15次
试验条件A
受试端数：2
F=ION/102+1$
或验条性H
乐力：517kPa
≤5×10*Pa.·cms
试验条件C
省略项处理
压力517kPa
同AL分组
按表：形和3
加速度：14700m/s2（1500g）
脉冲持续时间0.5ms
XI、YI和ZI每个方向各5次。
加速度：98000m/s（10000g）
时间：1min
方向。YI和ZI每个方向
按表8步骤1和3
IcE=20V
同B3.分组
t=1000h
表7E组检验（仅供鉴定）
GJB128A—97
GB/T4587—-94
I'ce=20V
抽样方案
LTPD=10
SJ50033/163—2003
鉴定检验和大批
量的质量一致性
检验抽样方案
LTPD=10
LTPD=10
入=10
小批量的质量
致性检验
极限值
SJ50033/163—2003
检验和试验
集电极一基极
截止电流
集电极一基极
截止电流变化
正向电流
传输比
正向电流传输比的变化
表8A、B、C和E组终点测试
GB/T4587—94第IV章
第1节
第1节
第1节
第1节
本测试超过A组极限值的器件不应接收：5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB33A一97的规定：5.2贮存要求
贮存要求应按GJB33A—97的规定：5.3运输要求
运输要求应按GJB33A-97的规定、6说明事项
6.1预定用途
发射极一基极开路
Vce=Icao
发射极一基极开路
FcB=IcBO
VCE=3V
lc=1A（脉冲法）
FcE=3V
lc=1A（脉冲法）
符合本规范的器作供新设备设计使用和供现有后勤保障，6.2分类
I3hFE:
极限值
≤初妨值的25%
器件的等级按GJB33A一97中1.3.1的规定，提供的质量保证等级为普车、特车和超特车三级、分别用字母JP、JT和JCT表示。
6.3订购文件应明确的内容
合同或订单应规定下列内容：
本规范的编号和名称：
器件型号：
对引出端材料和镀涂层的特殊要求；d)
等级（见6.2)；
数量：
需要时，其他要求。
6.4直流安全工作区
直流安全工作区见图2。
Te=25℃
3DK457直流安全工作区
SJ50033/163—2003
IcE(V)
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