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【电子行业标准(SJ)】 CS40型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

本网站 发布时间: 2024-07-13 20:41:06
  • SJ2097-1982
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    SJ 2097-1982

  • 标准名称:

    CS40型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管

  • 标准类别:

    电子行业标准(SJ)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    1982-05-15
  • 实施日期:

    1982-12-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    132.53 KB

标准分类号

  • 中标分类号:

    能源、核技术>>能源、核技术综合>>F01技术管理

关联标准

  • 采标情况:

    MIL-S-19500 NEQ

出版信息

  • 页数:

    2页
  • 标准价格:

    8.0 元

其他信息

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标准简介:

标准下载解压密码:www.bzxz.net

SJ 2097-1982 CS40型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管 SJ2097-1982

标准内容标准内容

部分标准内容:

中华人民共和国电子工业部部标准CS4O型N沟道结型场效应
小功率半导体开关三极管
SJ2097-82
1本标准适用于CS40型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管,该产品主要用于电子设备的开关电路中
2该产品除应符合本标准的规定外,还应符合SJ614一73《半导体三极管总技术条件》的规定,3产品的外形结构和尺寸应符合SJ139一81《半导体三极管外形尺寸》中的S-2型的规定。引出线排列顺序为 S、D、G。
4技术要求和试验方法
4.1产品的电参数应符合参数规范表的规定。电参数的测试方法应符合SJ1949~1973—81《场效应半导体管测试方法》及SJ2092一82《CS35型N沟道结型场效应小功率半导体开关三极管》附录A的规定。4.2各项环境试验后,按顺序测试下列电参数:漏源通态电阻rDs(n):
截止漏电流ID(ot+):
栅源截止电压Vcs(ot);
截止栅电流Icss;
栅源击穿电压V(BR)GSS。
测试结果:rps(on)、Ip(o11)、VGs(o1)的相对变化均不得超过±30%,Iass、V(a2)Gss应符合规范值。
4.3短期寿命试验条件
电压:Vcs=-10V,VDs0:
b.温度:125℃;
C.时间:240小时。
4.4高温贮存试验条件
温度:125℃。
4.5短期寿命试验和高温贮存试验后考核标准为:rDs(。,)、Ip(。1\)、Vcs(。1)的相对变化均不得超过±30%为合格。
4.6本标准参数规范的仲裁条件为:环境温度:25±1C
b相对湿度:48%~52%;
c.气压:860~1060mbar.
5各生产单位应在产品说明书中提供下列特性曲线:a. rps(e.)-
b.rps(on)
-,曲线:
-T。曲线:
一T。曲线:
d. Vescotr)
-T。曲线:
e.I,—Vps曲线
6各生产单位应在产品说明书中提供本单位工艺筛选的项目和条件,中华人民共和国电子工业部1982-05-15发布1
1982-12-01实施
SJ2097—82
AOT-=(+1O)SOA
0=(O)S0A A0I=SAA
101500-50
AOT=saAwwW.bzxz.Net
AO1-=SSA
Vulsan
AOT=SOA
SsD(a)A
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