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【国家标准(GB)】 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

本网站 发布时间: 2026-03-13 11:35:19

基本信息

  • 标准号:

    GB 3439-1982

  • 标准名称:

    半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

  • 标准类别:

    国家标准(GB)

  • 标准状态:

    已作废
  • 实施日期:

    1983-10-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

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    34页
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GB 3439-1982 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 GB3439-1982

标准内容标准内容

部分标准内容:

UDC62T.382.049.75-181.4:621.317.08GB
中华人民共和国国家标准
GB3439-82
降为SJ/T10735-96
半导体集成电路TTL电路
测试方法的基本原理
General principles of measuring methodsof TTL circuits for semiconductor integrated circuits1982-12-31发布
1983-10-01实施
国家标准局批准
中华人民共和国国家标准
半导体集成电路TTL电路
测试方法的基本原理
General principles of measuring methodsofTTLcircuits for semiconductor integrated circuits621.382.049
621.317.08
GB3439-82
本标准规定了半导体集成电路TTL电路(以下简称器件)静态参数和动态参数测试方法的基本原理。
本标准是参考国际电工委员会(IEC)1472《半导体器件和集成电路测试方法的基本原理》制订的。
若无特殊说明,本标准涉及的逻辑均为正逻辑。总的要求
1.1若无特殊说明,测试期间,环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定。1.2测试期间,应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定。
1.3测试期间,施于被测器件的电源电压应在规定值的土1%以内。施于被测器件的其他电参量的精度应符合器件详细规范的规定。被测器件与测试系统连接或断开时,不应超过器件的使用极限条件。1.4
除了被测器件的功能是由参数测试来证实外,在静态参数测试和动态参数测试前应进行功能测1.5
被测器件有内部存储或滞后现象时,测试前应有预置位周期。静态参数测试
2.1输入钳位电压Vik
2.1.1定义
输人端在抽出规定的电流IIK时的电压。2.1.2测试原理图
输人钳位电压VIK的测试原理图如图1所示。图
国家标准局1982-12-31发布
标准分享网www.bzfxw.com免费下载1983-10-01实施
2.1.3测试条件
GB 3439--82
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA;
电源电压Vcc;
输人端抽出电流IIK。
2.1.4测试程序
2.1.4.1在器件详细规范规定的环境温度TA下,:将被测器件接入测试系统中。
电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.1.4.2
被测输入端抽出器件详细规范规定的电流IIK;其余输人端开路。2.1.4.3
输出端开路。
在被测输入端测得输入钳位电压VIK。分别测试每个输人端。
按本标准第2.1.4.3项至2.1.4.5项规定,2.1.4.6:
2.2输出高电电压VoH
2.2.1定义
输入端在施加规定的电平下,使输出端为逻辑高电平H时的电压。2.2.2测试原理图
输出高电平电压VoH的测试原理图如图2所示。Vcc
测试条件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度TA;
电源电压Vcc,
输人端施加的电平,
输出端负载电流IoH。
测试程序
在器件详细规范规定的环境温度TA下,将被测器件接人测试系统中。2.2.4.1
电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.2.4.2
输入端施加器件详细规范规定的电平。被测输出端抽出器件详细规范规定的负载电流IOH其余输出端开路。在被测输出端测得输出高电半电压VoH。按本标准第2.2.4.3项至2.2.4.5项规定,分别测试每个输出端。2.2.4.6
2.3输出高电平电压(双扩展端)VoHXx定义
有双扩展端的门电路,扩展端和输入端在施加规定的条件下,使输出端为逻辑高电半H时的电压。2
测试原理图
GB 3439--82
输出高电平电压(双扩展端)VoHXx的测试原理图如图3所示。Vcc
人网络
2.3.3测试条件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度TA,
电源电压Vcc,
输入端施加的电平,
扩展端电流Ix,
输出端负载电流IoH。
2.3.4测试程序
将被测器件接人测试系统中。
2.3.4.1在器件详细规范规定的环境温度TA下,电源电压Vcc调到器件详细规范的规定值。2.3.4.2
调节扩展端电阻R,使扩展端电流Ix为器件详细规范的规定值;其余输入端施加器件详细规范规定的电平。
输出端抽出器件详细规范规定的负载电流IOH。2.3.4.4
在输出端测得输出高电平电压(双扩展端)V2.3.4.5
OHXX。
2.4输出高电平电压(单扩展端)VoHx2.4.1定义
有单扩展端的门电路,扩展端和输入端在施加规定的条件下,使输出端为逻辑高电平H时的电压。2.4.2测试原理图
输出高电平电压(单扩展端)VoHX的测试原理图如图4所示。输
人网络
标准分享网www.bzfxw.com免费下载2.4.3
测试条件
GB3439-82
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度TA
电源电压Vcc,
输人端施加的电平;
扩展端电压Vx,
输出端负载电流IoH。
测试程序
在器件详细规范规定的环境温度TA下,:将被测器件接人测试系统中。
电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。扩展端电压Vx调到器件详细规范规定的电压值;:其余输人端施加器件详细规范规定的电输出端抽出器件详细规范规定的负载电流IoH。在输出端测得输出高电平电压(单扩展端)VoHX。2.5输出低电平电压VoL
2.5.1定义
输入端在施加规定的电平下,使输出端为逻辑低电平L时的电压。2.5.2
测试原理图
输出低电平电压VoL的测试原理图如图5所示。Vcc
测试条件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度TA,
电源电压Vcc,
输入端施加的电平;
输出端负载电流IoL。
测试程序
在器件详细规范规定的环境温度TA下,将被测器件接人测试系统中。电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。输入端施加器件详细规范规定的电平。被测输出端注人器件详细规范规定的负载电流IoL,其余输出端开路。在被测输出端测得输出低电平电压VoL。按本标准第2.5.4.3项至2.5.4.5项规定,分别测试每个输出端。输出低电平电压(双扩展端)VoLXxGB3439-82
2.6.1定义
有双扩展端的门电路,扩展端和输入端在施加规定的条件下,使输出端为逻辑低电平L时的电压。2.6.2测试原理图
输出低电平电压(双扩展端)VoLXx的测试原理图如图6所示。人网
测试条件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度TA
电源电压Vcc,
输人端施加的电平;
扩展端X电阻Rx,
扩展端电流Ix,
输出端负载电流IoL。
2.6.4测试程序
在器件详细规范规定的环境温度TA下,将被测器件接入测试系统中。2.6.4.1
电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.6.4.2
扩展端注人器件详细规范规定的电流I双,其余输人端施加器件详细规范规定的电平。输出端注人器件详细规范规定的负载电流IoL。2.6.4.4
在输出端测得输出低电平电压(双扩展端)VoLxx。2.6.4.5
输出低电平电压(单扩展端)VoLX2.7
2.7.1定义
有单扩展端的门电路,扩展端和输入端在施加规定的条件下,使输出端为逻辑低电平L时的电压。测试原理图
输出低电平电压(单扩展端)VoLx的测试原理图如图7所示。标准分享网www.bzfxw.com免费下载2.7.3
测试条件
输人网络
GB3439-82
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度TA,
电源电压Vcc,
输人端施加的电半;
扩展端电流Ix,
输出端负载电流IoL。
测试程序
在器件详细规范规定的环境温度T4下,将被测器件接人测试系统中。电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。扩展端抽出器件详细规范规定的电流Ix,其余输人端施加器件详细规范规定的电平。输出端注入器件详细规范规定的负载电流IoL。在输出端测得输出低电平电压(单扩展端)VoLx。2.7.4.5
2.8扩展器导通电压(双扩展端)Vsx0).v)2.8.1定义
有双扩展端的扩展器,输入端和扩展端在施加规定的条件下,使扩展器导通时扩展端间的电压。2.8.2测试原理图
扩展器导通电压(双扩展端)VxX(ON)的测试原理图如图8所示。Vc
输人网络
被测器
测试条件
GB3439-82
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.
环境温度TA,
电源电压Vcc;
输人端施加的电平;
扩展端X电压Vx,
扩展端又电流Ix。
测试程序
在器件详细规范规定的环境温度T4下,将被测器件接人测试系统中。电源电压VcC调到器件详细规范的规定值。扩展端X电压Vx调到器件详细规范规定的电压值;扩展端X注入器件详细规范规定的电流1x;其余输人端施加器件详细规范规定的条件。2.8.4.4在扩展端X和X之间测得扩展器导通电压(双扩展端)Vxx(ON)。2.9扩展器导通电压(单扩展端)W(ON)2.9.1定义
有单扩展端的扩展器,输人端和扩展端在施加规定的条件下,使扩展器导通时扩展端的电压。2.9.2测试原理图
扩展器导通电压(单扩展端)Vx(ON)的测试原理图如图9所示。Vcc
入网络
2.9.3测试条件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA
电源电压Vcc,
输入端施加的电平,
扩展端电流Ix。
测试程序
在器件详细规范规定的环境温度TA下,:将被测器件接入测试系统中。
电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。扩展端注人器件详细规范规定的电流Ix,其余输人端施加器件详细规范规定的电平。在扩展端测得扩展器导通电压(单扩展端)Vx(ON)。输出管B-E结电压VBEQ
标准分享网www.bzfxw.com免费下载定义
GB3439-82
有双扩展端的门电路,
输人端和扩展端在施加规定的条件下,使输出端为逻辑低电平L时,扩展端输出管B一E结的电压。
2.10.2测试原理图
输出管B一E结电压VBEQ的测试原理图如图10所示。Vc
人网络
测试条件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA,
电源电压Vcc,
输人端施加的电平;
扩展端电流Ixx,
输出端负载电流IoL。
测试程序
在器件详细规范规定的环境温度T4下,:将被测器件接人测试系统中。
电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。扩展端注入器件详细规范规定的电流Ix,其余输人端施加器件详细规范规定的条件输出端注人器件详细规范规定的负载电流IoL。在扩展端测得输出管B-E结电压VBEQ。输入电流I,
2.11.1定义
输人端在施加规定的最大输人电压V时流人器件的电流。2.11.2测试原理图
输人电流,的测试原理图如图11所示。2.11.3测试条件
GB3439-82
输人网络
被测器件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TAbZxz.net
电源电压Vcc*
最大输人电压VI
输人端施加的电平。
2.11.4测试程序
在器件详细规范规定的环境温度TA下,将被测器件接人测试系统中。电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。被测输入端最大输入电压V,调到器件详细规范规定的电压值,其余输人端施加器件详细规范规定的电平。
输出端开路。
在被测输人端测得输人电流II。按本标准第2.11.4.3项至2.11.4.5项规定,分别测试每个输人端。2.12输入高电平电流IIH
2.12.1定义
输人端在施加规定的高电平电压VIH时流入器件的电流。2.12.2测试原理图
输人高电平电流IIH的测试原理图如图12所示。TH
2.12:3测试条件
输入网络
被测器件
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a.环境温度TA
标准分享网www.bzfxw.com免费下载b.
电源电压Vcc,
输人高电平电压VIH;
输人端施加的电平。
2.12.4测试程序
GB3439—82
2.12.4.1在器件详细规范规定的环境温度T4下,将被测器件接入测试系统中。电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.12.4.2
2.12.4.3被测输人端输人高电平电压VIH调到器件详细规范规定的电压值;其余输人端施加器件详细规范规定的电平。
2.12.4.4输出端开路。
在被测输人端测得高电平电流IH。2.12.4.5
按本标准第2.12.4.3项至2.12.4.5项规定,分别测试每个输人端。2.12.4.6
2.13输入低电平电流I1L
2.13.1定义
输人端在施加规定的低电平电压VL时流出器件的电流。测试原理图
输人低电平电流I1的测试原理图如图13所示。T
2.13.3测试条件
图·13
被测器
测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。环境温度TA;
电源电压Vcc,
输人低电平电压V;
输入端施加的电平。
2.13.4测试程序
在器件详细规范规定的环境温度T4下,将被测器件接入测试系统中。电源电压Vcc调到器件详细规范规定的电压值。2.13.4.2
被测输端输入低电平电压VL调到器件详细规范规定的电压值;其余输入端施加器件详细规范规定的电平。
输出端开路。
在被测输人端测得输人低电平电流IIL。按本标准第2.13.4.3项至2.13.4.5项规定,分别测试每个输人端。正向阐值电压下的输入电流IT+
2.14.1定义
输人端在施加规定的正向阈值电压Vr+时流出器件的电流。有施密特触发器的器件,

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