【电子行业标准(SJ)】 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

1c531.100
备系号：812/-2001
中华人民共和国电子行业标准
SJ/T10805—2000
半导体集成电路
电压比较器测试方法的基本原理Semironductor integrated circuitsGcncral princlples of measurlng methods for voitage comparators2000-12-28 发布
2001-03-01 实施
中华人民共和国信息产业部发布前言
本导准在原产家标准B/T6798—19966半号体荣成出路中压比较器谢试方法的本原理”的基础之上过行修订.
本标准与GB/T6798一1996扫比，所考总参数毕木扫同，装术内窄上作了扫产处理。本标推的编修订有利丁国半导体集成电路行业的技术交涌利经济交流：本标准谢录A为练准的附录
本标准户信息产业提山。
本你准自中国电产技术标准化班究所归口。本标准孕草单位，中国电子按术标难化研究所。本标准产要起草人：李燕荣、理启勤。本标准首次发布时间：1996年。范围
引洲文将
3定义
中特栏测试
翰入失调电压Vio
输入失调电压温度系微
输入失调电流和
箱入尖调凸植温度系数
输入偏宜乌随
入偏宜鸟流温度系数必间
静态功邦P，
开坏也[F弹益,4vn
其模扣制比KLMK
微大共模输入电W
电源七压抑制比
最大禁模输入电开Vpk
输山高息平电压VoH
输出低电平电压VoL
高电平输出电流 loH
低电平输出电流IoL
5.1了开印差模输入电臣R
开印单输出出阳
选通电流
响应时司限
选通选退时间
附录 A
电琴数存号（标谨的附录）
中华人民共和国电子行业标准
半导体集成电路
电压比较器测试方法的基本原理Semironductor iategrsted circuitsGgneral priariples af measurlag methods for vaitage comparators主题内容与适用范
SJ/T10805—2000
代背 G8/T 679886
本规范规定了半导体果成电踏鸟压比较器（以下简称器仆）特性测试方法的基本原疆。
本规范适出丁卡专体集成电路电玉比较器电特性的观试，2引用文件
SJ/T10734—96半导体集成电路文字筹号电参数文字符号3定义
本标准所使用电害敏符导和定义符合SJ/T10734的规定。4要求
4.「，若尤特殊说明，测试期间，环境或登考点温度偏离规定消的范玉应等会器件详组规范的规定，
2测试期间，应避负外界干扰对测试准确良的影响。测试设备引孕的测试误差应荐合器年详细规范的规定。
4.3测以期间，旋于被测器件的电源的内图在信年频率下应援近为艺：电源已压的偏差应生规定值制土！%以内。施于被烈器件的他比母的泄确度成等合需件诺细规范的规定。
4.4交流小告号测试应在线性1作区进行：4.5被测器件与测试系统迁接或断开时，不应超过器件的使用极限紊们。4.6若有要求时，应按器件详组规范规定的顺,辛接通中源。4.7测试期间，被测得件应连接详纠观范规定的辅助心路和补偿落，4.8测试期间，被测鉴件应避免巴玩口激现象。4.9若电特性值是中儿步逸试的结果经计克范确定时：这些测试的时间间端成尽可能短
中华人民共和国信息产业部2000-12-28批准2001-03-01实新
SJ/T108052000
4.10深用辅助放人器（A）净被测器件（DUT）构成闭合环的方法测试时，基本测试理女圣「所示。
辅助敬大应阐年下到繁求：
开环增益不丁6GdB：
b。输入失调鸟流和输入偏置电流虚很小：C。动态恶南足够大。
环路元件应满足下要求：
Ry·Irs Vo:
ResRat
Rs IiMd:
Ros≤ReRn:
t字，
被测器件的输入偏盟也流：
设暴件的验入失调出乐，
被测器件的开环萃快输入出阳，一药助放大器的开环尊瑞输山出电阻，VREE
dRR值应保证辅啦放大器在线性区E作、比特良决定了测试的准确度4.11避免风静电放电市引起器作损资。5
电特性测试
5.1输入头调电币o
SJ/T 10805—2000
测够出电与为规定值时两输入端间所年的真流补偿户。5.1.2测试电路图
Vm的测试电路因如图2所示。
-Poy -HoL -Von
5.1.3测试条件免费标准下载网bzxz
测证质间，下列别试条件应符合器详阳规范的观定。.
环境或参考点温度：
电源电压，
输出规定电压tFr、aL、Vs>：
赖出负载：
环路条性：
共模输入电：
其他引山端条件及辅助网络。
测试宿
技器件详细规范规定判环境条件及成接的入，輪出网，将被测器件法入5. 1. 4. 1
测试系统中。
5.1.4.2越道规定的电源七斥。接统定输出凸，选拆扫应的谢试现厅。5.1.4.3开大装道Vo，从辅助效大器“A”输山墙测行V则对应输定出正V的输入定调电为：
52输入关调凸压温度累微vio
5. 2. 1日的
测试输入火调压险环温度变化率。3
5.2. 2剩式小路图
SJ/T 10805—2000
的浏试电路图同的测试电路图，如图？所示。5.2.3测试案件
测试期间，上鸿试条件应锋会器件详细划范的规定。a。环境况度范录，
b.电源电：
输出定电！
d.输出负裁：
环录件：
其模输入电正：
其也引山端条件皮摘助网络。
5.2.4测试程序
在坏境温度T，=25C条伴下，接本标准5.1.4的提序测得VWl%将坏境温度调至规定的最低度 TaMIm，本标准 5,1.4的程序测得 Pu”出5. 2.4.2
下式讨算求出vio-:
5. 2. 4. 3 将环境温度调至现定的最高温度 ra(MAxI 接本标准 5.1.4 的释,序测得 Vus~ 出下式计算求a-
TAMA -TA
总的输入火调化压温度系数可表述为：Ctero
5.3输入失调电流o
5.3.1日的
Taxa ~ TaMN
测试摘出出压为规定位时流入两输入端的：也流之差。5. 3. 2测或自降图
的测试路图如3所示
5. 3. 3刚试条性
SJ/T 10805-2000
Pon --YoL -I'ur
测试期间，下列测试条件应符合器性详细规范的规定。8
环境或能考点温底
电源电：
输出规定电压（For、For、Fo
输出负载：
输入端测试电阻Rs:
环路条件；
模输入电压：
其他引出端条件及辅动网。
测试程序
孩器件详细规范观定的环境条作及应按的输入，输出网络，或测器科接入测试系统中，
接通杭定的电源电压，按规定的输山电压，选评相商的测试严序。5.3.4.2
开关5,接满规定电乐-Vn。
5.3.4.4开关5，5:接点闭合，以辅助放人费A”的输小端得电压e5.3.4.5开关S，5:接点断开，从辅功效人带“A“的山端测得电点：由下式计意出对成输山规定出压的输入失调电流为：Y,-Yu
5.4输入失调流沮度系数4o
5. 4. 1日的
测试输入调凹流助环境温典的变代率：5
5.4.2测试电路图
SJ/T10805--2000
的测试电路图高的试电路图，如图3所示5. 4. 3 测试条作
测试期间，下列测试备性应符会器件详细视范均规定.a.
环境温度范用：
电源电压：
输山规定也压：
输小负载：
输入端测试中阻K：
环路亲”：
共模编入中压：
其他引也弱条件及辅助网络，
谢试程序
在环境温度T。=25°℃下，按本极准5.3.4的程于测得11om5. 4. 4. 1
5. 4. 4. 2
将环境温度调至受低握度THi，按本标准5.3.4的程序测得1102由下式计出
T、-TArMn
5.4.4.3将环统温受谢至量高温度TAsM4x按本标准5.3.4的径序测得Tio)-由下式计算lamo
Ton -fo
TuMAX -T.
总的输入失调电流润度系数，可表述为：ago
5.5输入偏置电流和
5. 5. 1日的
TAMAX)-TAMO
测试使输电玉为规定值两输入端流入流的平均值5.5.2测试电路图
信的测试电陷图与的试路图扫间，图3所示.5.5.3测试条件
测试期间，下洪试务针成符合详到规范的配定，环境或零专点温度：
电源电压：
缔!规定电压（Vau、PalVaw：
输！！负载：
a，输入测试电阻 Rs;
f.环路条性，
E、共模入山压：
SJ/10805
h.其他引出端系件及辅助网络：5. 5. 4 测试理疗
5.5.4.1器件详细规逆规定的坏境条件及虚接剂输入、翁出网终，将被测器件接入测试系续中。
5.5.4.2接通规定的电溉电压。按规定的输山出压，选择相应的通试程序。5.5.4.3开次5接递规定电压-g
5.5.4.4开关S楼断五，5接点闭个，从铺助放火器A的输川端测得电乐Y95.5.4.5开关S格点州合，S,按点断开，从载助放人容A的精山瑞测得电压V：由下式计难应输出规定电压V的输入编置电流为n：Y-Ke
In\R,R
5.6输入偏受电流温度系数通
5.6.1日的
测试构入腺置电流随环流温度约变化举5.6.2就出路图
产的划试电路圣同的测试电路函，如图1所示。5.6.3试条付
试期间，下列酬试条件应符合器件详细规范的规定.a.
环境温度范密：
电源电压：
输出规定电乐：
输出负载：
输入到试电阳Rs：
环路条件：
共模输入：
其他引出端条非及拥助闽络。
迎就迎安
在境湿度-25下，核态标准5.5.4的程率测得m5.6.4.1
5. 6.4. 2.格环境温度调至划走最低温度Ta(MHJ，按本标准5.5.4的序测得u2，自下式计算出e-1
Tiar -Im.
aaa. F T,-Tamm
5.6.4.3将环境温度调至最高温度7aMAx、按本标准5.5.4的程序谢得ip，.由下式i开出
SJ/T10805—20Q0
Treg-lm
总的输入次调应流温度系数，可表这为，tve
5.7静志功托
5. 7.1 3的
fp - /mz
TAMax -IaMiN;
测试无负载的情况一，器行所消耗的出腺功率。5.7.2测试电路图
的洲试电路图图4所示。
on 'oL Voe
5.7.3测试条F
剃试期间，下划试条件虚矿合器件计细现范的规定。日，环境或擎考点鼎度：
b.源电压：
输出规定出非（或输人现定心压）：c.
d环路条件：
。共他出端条件及辅助网华.
5. 7. 4 测试胖序
接器们详纠规和惑定的环境条针及成接的辅入，靠小网路，将被测器件接人5.7. 4 1
谢试系统中，
5.742通规定的出源，
SJ/T 10805—2000
5.7.4.3S通规起物电压，S接证电流衣小测得正电源电流5.7.4. 4S.接道规定的电压，5,接通电流表A,，测得负添血流1。由下式计求山静态耗
5.日开环电压增益Avp
5. 8. 1日的
Pp= V,-++ V.-
测试器性开环时在线性区内物出出压变化与差模管入电尽变化之比。5.8.2测试电路图
Avo的测试电路图如图5所示。
说期：V为低书输出高电平下限值的一个电压：Vo为亮箱出低屯平上限值的一个出乐：'为现定频率的止效告导电压，其顿值内.～Yu：5. 8. 3或条件
测试期间，下列测试条件应符会件详细频范的想定：a.
环境噬费考点温度：
电源心压：
输出规定电压及变流信号幅度和频率：输出负载：
环举条件：
其他引出端条及辅助网祭。
测试程
按器件详组现范规定的环境条件及成接的输入，输出网举，将器件接入9
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