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- GB 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
标准号:
GB 5594.8-1985
标准名称:
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定
标准类别:
国家标准(GB)
标准状态:
现行-
发布日期:
1985-01-01 -
实施日期:
1986-01-02 出版语种:
简体中文下载格式:
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标准简介:
标准下载解压密码:www.bzxz.net
本标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。 GB 5594.8-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定 GB5594.8-1985
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