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【国家标准】 半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇:内部目检要求

本网站 发布时间: 2026-06-26 11:09:22

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 43035-2023

  • 标准名称:

    半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇:内部目检要求

  • 标准类别:

    国家标准(GB)

  • 英文名称:

    Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 20:Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits—Section 1:Requirements for internal visual examination
  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    2023-09-07
  • 实施日期:

    2023-09-07
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .pdf .zip
  • 下载大小:

    10.11 MB

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标准分类号

关联标准

  • 采标情况:

    IEC 60748-20-1:1994,IDT

出版信息

  • 出版社:

    中国标准出版社
  • 页数:

    24页
  • 标准价格:

    43.0

其他信息

  • 起草人:

    王婷婷、吕红杰、冯玲玲、王琪、李林森、雷剑、张亚娟
  • 起草单位:

    中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院
  • 归口单位:

    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
  • 提出单位:

    中华人民共和国工业和信息化部
  • 发布部门:

    国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
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标准简介:

本文件的目的是检查膜集成电路和混合膜集成电路内部的材料、结构和制造工艺。通常在封帽或包封前进行该项检验,从而找出并剔除带有内部缺陷的器件。这种缺陷会导致器件在正常应用中失效。其他的验收准则应与购买商或供应商商定。


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GB/T 43035-2023半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇:内部目检要求
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