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【GB国家标准】 集成电路(IC)卡封装框架
本网站 发布时间:
2023-06-20 13:21:59
- GB/T 39842-2021
- 现行
标准号:
GB/T 39842-2021
标准名称:
集成电路(IC)卡封装框架
标准类别:
国家标准(GB)
标准状态:
现行出版语种:
简体中文下载格式:
.zip .pdf
标准简介/下载
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标准简介:
GB/T 39842-2021.Itegrated circuit ( IC) card packaging framework.
1范围
GB/T 39842规定了集成电路(IC)卡封装框架(以下简称IC卡封装框架)的技术要求、检验方法、检验规则、包装、贮存和运输。
GB/T 39842适用于IC卡封装框架,包括接触式IC卡封装框架和非接触式IC卡封装框架。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有修改单)适用于本文件。
GB/T 2423.2电工电子产 品环境试验第2 部分:试验方法试验 B:高温
GB/T 2423.17电工电子产品环境试验第 2部分:试验方法试验 Ka:盐雾
GB/T 2423.50环境试验第2部分:试验方法试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加速试验
GB/T 2423.51-2020环境试验第2部分:试验方法试验Ke:流动混合气体腐蚀试验
GB/T 2828.1计数抽样检验程序第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
GB/T 3922纺织品色牢度试验 耐汗渍 色牢度
GB/T 13557印制电路用挠性覆铜箔材料试验方法.
GB/T 16545-2015金属和合金的腐蚀腐蚀试样上腐蚀产物的清除
GB/T 16649.2识别卡带触点的集成电路卡 第2 部分:触点的尺寸和位置
GB/T 16921-2005金属覆盖层 覆 盖层厚度测量X 射线光谱法
GB/T 17554.1识别卡测试方法第1部分:一般特性测试
GB/T 25933-2010 高纯 金
GB/T 25934-2010(所有 部分)高纯 金化学分析方法
GB/T 32642-2016平板显示器基板玻璃表面粗糙度的测量方法
1范围
GB/T 39842规定了集成电路(IC)卡封装框架(以下简称IC卡封装框架)的技术要求、检验方法、检验规则、包装、贮存和运输。
GB/T 39842适用于IC卡封装框架,包括接触式IC卡封装框架和非接触式IC卡封装框架。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有修改单)适用于本文件。
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