【有色金属行业标准(YS)】 X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量

本网站发布时间： 2009-12-04 16:00:00

YS/T702-2009
现行

基本信息

标准号：
YS/T 702-2009
标准名称：
X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量
标准类别：
有色金属行业标准(YS)
标准状态：
现行
发布日期：
2009-12-04
出版语种：
简体中文
下载格式：
.rar .pdf
下载大小：

标准分类号

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出版信息

出版社：
中国标准出版社
标准价格：
0.0 元
出版日期：
2010-06-01

其他信息

相关标签：
射线荧光光谱法测定氢氧化铝含量

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标准简介：

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本标准规定了规定了X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的分析原理、仪器设备、分析步骤及分析重复性、精密性等。本标准适用于氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的测定。测定范围：SiO2：0.005％～0.08％，Fe2O3：0.004％～0.07％；Na2O：0.20％～0.80％。 YS/T 702-2009 X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量 YS/T702-2009

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