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【国家标准(GB)】 永磁材料磁性能温度系数测量方法
本网站 发布时间:
2024-12-13 19:17:43
- GB/T24270-2009
- 现行
标准号:
GB/T 24270-2009
标准名称:
永磁材料磁性能温度系数测量方法
标准类别:
国家标准(GB)
标准状态:
现行-
发布日期:
2009-06-19 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar .pdf下载大小:
1.01 MB

部分标准内容:
ICS29.030
中华人民共和国国家标准
GB/T24270-—2009
永磁材料磁性能温度系数测量方法Method of measurement of temperature coefficient ofmagnetic properties of permanent magnetic materials2009-06-19发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
2010-02-01实施
中华人民共
国家标准
永磁材料磁性能温度系数测叠方法GB/T24270—2009
中国标准出版社出版发行
北京复兴门外三里河北街16号
邮政编码:100045
网址www.spc.net.cn
电话:68523946
68517548
中国标准出版社察皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销
开本880×12301/16
印张0.5
字数7千字
反2009年10月第一次印刷
2009年10月第一版
书号:155066·1-38910
如有印装差错
定价14.00
由本社发行中心调换
版权专有侵权必究
举报电话:(010)68533533
本标准由中国电器工业协会提出前言
本标准由全国电工合金标准化技术委员会(SAC/TC228)归口。本标准起草单位:桂林电器科学研究所、中国计量科学研究院本标准主要起草人:谢永忠、林安利、贺建、陈京生、詹亚萍、崔得锋。GB/T24270—2009
1范围
永磁材料磁性能温度系数测量方法本标准规定了在闭合磁路中永磁材料剩磁和内票矫顽力温度系数的测量方法。本标准适用于各类永磁材料磁性能温度系数的测量。2规范性引用文件
GB/T24270-2009
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。GB/T3217—1992永磁(硬磁)材料磁性试验方法GB/T9637电工术语磁性材料与元件3术语和定义
GB/T9637确立的以及下列术语和定义适用于本标准。3.1
temperature coefficient of remanerce a(B,)剩磁温度系数
由于温度变化而引起剩磁的相对变化与温度变化之比。α(B) = 1
B(T2)-B.(T)
B(T)。(T2=T)
式中:
α(B,)—剩磁温度系数,单位为%/K;Ti—基础温度,单位为开(K)
T2—-温度变化的上限温度,单位为开(K);B,(T,)-—温度T,时的剩磁,单位为特(T);B(T2)——温度T2时的剩磁,单位为特(T)。3.2
temperature coefficient of intrinsic coercivity a(H)内察矫顽力温度系数
由于温度变化而引起内察矫顽力的相对变化与温度变化之比。α(H)
He(T2)-Ha(T)
H(T)·(T-T)
式中:
α(H。)-内矫顽力的温度系数,单位为%/K;T———基础温度,单位为开(K);T2—温度变化的上限温度,单位为开(K);H(T,)———温度T,时的内察矫顽力,单位为安每米(A/m);H(T,)-—温度T2时的内矫顽力,单位为安每米(A/m)。4测量装置
闭合磁路测量装置
在闭合磁路中测量剩磁B.和内矫顽力H。的测量装置如图1所示。·(1)
·(2)
GB/T 24270—2009
电磁铁
4.2磁化装置
加热装暨
磁通密度和磁场强度测量装置
H积分器
X-Y记录仪
或计算机
B()积分器
测量装置中用于磁化试样的电磁铁或磁导计应符合GB/T3217一1992中5.1的规定。4.3磁通积分器
测量装置中对于磁通积分器的规定按GB/T3217一1992的5.3和5.4。5加热及测温装置
5.1加热装置
在闭合磁路中测量温度系数推荐采用图2所示的加热装置。上极头
绝缘层
加热板
试样,H、B()探测线圈
热电偶
下极头
图2在闭合磁路中测量温度系数的加热装置5.2测温元件
本标准推荐采用热电偶测量温度,温度测量精度应不低于士0.5℃。6试样
试样的形状、尺寸和其他要求按GB/T3217—1992中5.2的规定。7测量方法
7.1温度测量范围
温度系数的温度测量范围按相关的产品标准规定或供需双方商定,推荐的温度测量范围为273K~373K。
2试样的磁化
GB/T24270—-2009
测量前应将试样磁化至饱和,最低饱和磁化场的选择参见GB/T3217—1992中的附录B。7.3试样的温度循环
测量前应对试样进行温度循环处理,即将试样从温度T1加热到高出温度T?20K后再自然冷却至室温。这种温度循环至少进行一次。7.4测量过程
对经过7.2和7.3处理的试样,按照GB/T3217-=1992的5.5.2测量出T,和T2时的B,和Ha。8
数据处理
分别按式(1)和式(2)计算α(B.)和α(H。)。9测试报告
测试报告应包括如下内容:
试样编号:
-试样的材料牌号;
试样的形状尺寸;
测量装置;
——测量的温度范围;
α(B,)和α(H)值;
一测试人员及校验人签字;
—测试日期。
GB/T24270—2009
[1]IECTR61807:1999
参考文
Magnetic properties of magnetically hard materials at elevated tem-peratures-Method ofmeasurement.版权专有wwW.bzxz.Net
侵权必究
书号:155066·1-38910
GB/T24270-2009
打印日期:2009年10月30日F002定价:
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中华人民共和国国家标准
GB/T24270-—2009
永磁材料磁性能温度系数测量方法Method of measurement of temperature coefficient ofmagnetic properties of permanent magnetic materials2009-06-19发布
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2010-02-01实施
中华人民共
国家标准
永磁材料磁性能温度系数测叠方法GB/T24270—2009
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网址www.spc.net.cn
电话:68523946
68517548
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开本880×12301/16
印张0.5
字数7千字
反2009年10月第一次印刷
2009年10月第一版
书号:155066·1-38910
如有印装差错
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版权专有侵权必究
举报电话:(010)68533533
本标准由中国电器工业协会提出前言
本标准由全国电工合金标准化技术委员会(SAC/TC228)归口。本标准起草单位:桂林电器科学研究所、中国计量科学研究院本标准主要起草人:谢永忠、林安利、贺建、陈京生、詹亚萍、崔得锋。GB/T24270—2009
1范围
永磁材料磁性能温度系数测量方法本标准规定了在闭合磁路中永磁材料剩磁和内票矫顽力温度系数的测量方法。本标准适用于各类永磁材料磁性能温度系数的测量。2规范性引用文件
GB/T24270-2009
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。GB/T3217—1992永磁(硬磁)材料磁性试验方法GB/T9637电工术语磁性材料与元件3术语和定义
GB/T9637确立的以及下列术语和定义适用于本标准。3.1
temperature coefficient of remanerce a(B,)剩磁温度系数
由于温度变化而引起剩磁的相对变化与温度变化之比。α(B) = 1
B(T2)-B.(T)
B(T)。(T2=T)
式中:
α(B,)—剩磁温度系数,单位为%/K;Ti—基础温度,单位为开(K)
T2—-温度变化的上限温度,单位为开(K);B,(T,)-—温度T,时的剩磁,单位为特(T);B(T2)——温度T2时的剩磁,单位为特(T)。3.2
temperature coefficient of intrinsic coercivity a(H)内察矫顽力温度系数
由于温度变化而引起内察矫顽力的相对变化与温度变化之比。α(H)
He(T2)-Ha(T)
H(T)·(T-T)
式中:
α(H。)-内矫顽力的温度系数,单位为%/K;T———基础温度,单位为开(K);T2—温度变化的上限温度,单位为开(K);H(T,)———温度T,时的内察矫顽力,单位为安每米(A/m);H(T,)-—温度T2时的内矫顽力,单位为安每米(A/m)。4测量装置
闭合磁路测量装置
在闭合磁路中测量剩磁B.和内矫顽力H。的测量装置如图1所示。·(1)
·(2)
GB/T 24270—2009
电磁铁
4.2磁化装置
加热装暨
磁通密度和磁场强度测量装置
H积分器
X-Y记录仪
或计算机
B()积分器
测量装置中用于磁化试样的电磁铁或磁导计应符合GB/T3217一1992中5.1的规定。4.3磁通积分器
测量装置中对于磁通积分器的规定按GB/T3217一1992的5.3和5.4。5加热及测温装置
5.1加热装置
在闭合磁路中测量温度系数推荐采用图2所示的加热装置。上极头
绝缘层
加热板
试样,H、B()探测线圈
热电偶
下极头
图2在闭合磁路中测量温度系数的加热装置5.2测温元件
本标准推荐采用热电偶测量温度,温度测量精度应不低于士0.5℃。6试样
试样的形状、尺寸和其他要求按GB/T3217—1992中5.2的规定。7测量方法
7.1温度测量范围
温度系数的温度测量范围按相关的产品标准规定或供需双方商定,推荐的温度测量范围为273K~373K。
2试样的磁化
GB/T24270—-2009
测量前应将试样磁化至饱和,最低饱和磁化场的选择参见GB/T3217—1992中的附录B。7.3试样的温度循环
测量前应对试样进行温度循环处理,即将试样从温度T1加热到高出温度T?20K后再自然冷却至室温。这种温度循环至少进行一次。7.4测量过程
对经过7.2和7.3处理的试样,按照GB/T3217-=1992的5.5.2测量出T,和T2时的B,和Ha。8
数据处理
分别按式(1)和式(2)计算α(B.)和α(H。)。9测试报告
测试报告应包括如下内容:
试样编号:
-试样的材料牌号;
试样的形状尺寸;
测量装置;
——测量的温度范围;
α(B,)和α(H)值;
一测试人员及校验人签字;
—测试日期。
GB/T24270—2009
[1]IECTR61807:1999
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