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【国家标准(GB)】 微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
本网站 发布时间:
2008-03-31 15:00:00
- GB/T17473.6-2008
- 现行
标准号:
GB/T 17473.6-2008
标准名称:
微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
标准类别:
国家标准(GB)
标准状态:
现行-
发布日期:
2008-03-31 -
实施日期:
2008-09-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
KB
替代情况:
替代GB/T 17473.6-1998
标准简介/下载
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标准简介:
本标准代替GB/T17473—1998 《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法》(所有部分),本标准分为7个部分,本部分为GB/T17473—2008的第6部分。 本部分规定了微电子技术用贵金属浆料分辨率的测定方法。本部分适用于微电子技术用贵金属浆料的分辨率测定。 本部分代替GB/T17473.6—1998 《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定》。本部分与GB/T17473.6—1998相比,主要有如下变动:———将原标准名称修改为微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定;———增加了固化型贵金属浆料分辨率测定的内容;———原“光刻膜丝网网径20?25μm 不锈钢丝网”改为“光刻膜丝网,丝网孔径不大于54μm”;———增加6.3将印有固化型的试样按其规定的工艺要求进行静置、烘干、固化,固化后试样膜厚控制在1μm~15μm;———分辨率规格分级重新定义为0.1mm、0.2mm、0.3mm、0.4mm、0.5mm 五个级别。 GB/T 17473.6-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定 GB/T17473.6-2008 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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