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- YS/T 24-1992 外延钉缺陷的检验方法
标准号:
YS/T 24-1992
标准名称:
外延钉缺陷的检验方法
标准类别:
有色金属行业标准(YS)
标准状态:
现行-
发布日期:
1992-03-09 -
实施日期:
1993-01-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
44.45 KB
标准ICS号:
电气工程>>29.045半导体材料中标分类号:
冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合
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标准简介:
标准下载解压密码:www.bzxz.net
本标 准 规 定了外延钉缺陷的检验方法本标 准 适 用于任何直径与晶向的硅外延片上高度不小于4,u m 的钉缺陷存在与否的判断。如果钉缺陷比少且 彼此不相连,本标准可用十钉缺陷的汁数。本标 准 不 能测量钉缺陷的高度 YS/T 24-1992 外延钉缺陷的检验方法 YS/T24-1992
部分标准内容:
中华人民共和国有色金属行业标准外延钉缺陷的检验方法此内容来自标准下载网
主题内容与适用范围
本标准规定了外延钉缺陷的检验方法。YS/T 24-—92
本标准适用于任何直径与晶向的硅外延片上高度不小于4um的钉缺陷存在与否的判断。如果钉缺陷比较少且彼被此不相连,本标准可用于钉缺陷的计数。本标准不能测量钉缺陷的高度。2方法提要
将一片聚酯塑料薄膜以特殊方式沿三个不同方向推过试样表面,在两个或两个以上方向碰到的表面突起物被判定为钉缺陷。
3器具与材料
3.1真空吸片装置或镊子。
3.2聚酯塑料薄膜,厚度为25μm,面积为50mm×50mm。4试验样品
抽样方案及试样数量由供需双方商定。5检验步骤
5.1将真空吸片装置吸住试样背面,或用镊子夹持住试样。对于仲裁检测,也可将试样外延面朝上置于清洁表面上。
5.2拇指和食指夹住聚酯塑料薄膜,使薄膜在拇指下延伸约25mm,并与试样表面成45°倾斜。5.3于参考面对面,将薄膜与试样接触,见图1。案酯膜
海膜移动力向
图1试样和聚酯膜放置方尚
5.4推动薄膜至主参考面(见图2中方向①)。中国有色金属工业总公司1992-03-09批准606
1993-01-01实施
YS/T24--92
图2移动方向
5.5使薄膜重复做一系列平行且互叠加的移动。5.6记下薄膜与突起物相碰的每一个位置。5.7对其余两个方向(见图2中方向②和方向③)重复5.5~5.6条。三个方向大致马成120°角。5.8在两个或两个以上方向上,聚酯塑料薄膜与试样表面突起物相碰的每个位餐,当作为一个钉缺陷。
注:必要时,可用显微镜检查钉缺陷的存在及位置。6精密度
本方法对单个实验室平均检出率为95%,精密度为土5%(R2S),对多个实验室平均检出率为92.6%,精密度为士10%(R2S)。7
试验报告
7.1对于批量验收,试验报告应包括:产品类型;
批编号:
有钉缺陷试样数与被检试样数;c.
本标准编号,
检验单位、检验者和检验日期。7.2对于仲裁检验,还应包括标有钉缺陷大致位置的试样形貌图。附加说明:
本标准由中国有色金属工业总公司标准计壁研究所提出。本标准由上海有色金属研究所负责起草。本标推正要起草人施海青、金胜祖。本标准等效采用美国标准ASTMF815--83《外延钉缺陷检验方法》。607
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
主题内容与适用范围
本标准规定了外延钉缺陷的检验方法。YS/T 24-—92
本标准适用于任何直径与晶向的硅外延片上高度不小于4um的钉缺陷存在与否的判断。如果钉缺陷比较少且彼被此不相连,本标准可用于钉缺陷的计数。本标准不能测量钉缺陷的高度。2方法提要
将一片聚酯塑料薄膜以特殊方式沿三个不同方向推过试样表面,在两个或两个以上方向碰到的表面突起物被判定为钉缺陷。
3器具与材料
3.1真空吸片装置或镊子。
3.2聚酯塑料薄膜,厚度为25μm,面积为50mm×50mm。4试验样品
抽样方案及试样数量由供需双方商定。5检验步骤
5.1将真空吸片装置吸住试样背面,或用镊子夹持住试样。对于仲裁检测,也可将试样外延面朝上置于清洁表面上。
5.2拇指和食指夹住聚酯塑料薄膜,使薄膜在拇指下延伸约25mm,并与试样表面成45°倾斜。5.3于参考面对面,将薄膜与试样接触,见图1。案酯膜
海膜移动力向
图1试样和聚酯膜放置方尚
5.4推动薄膜至主参考面(见图2中方向①)。中国有色金属工业总公司1992-03-09批准606
1993-01-01实施
YS/T24--92
图2移动方向
5.5使薄膜重复做一系列平行且互叠加的移动。5.6记下薄膜与突起物相碰的每一个位置。5.7对其余两个方向(见图2中方向②和方向③)重复5.5~5.6条。三个方向大致马成120°角。5.8在两个或两个以上方向上,聚酯塑料薄膜与试样表面突起物相碰的每个位餐,当作为一个钉缺陷。
注:必要时,可用显微镜检查钉缺陷的存在及位置。6精密度
本方法对单个实验室平均检出率为95%,精密度为土5%(R2S),对多个实验室平均检出率为92.6%,精密度为士10%(R2S)。7
试验报告
7.1对于批量验收,试验报告应包括:产品类型;
批编号:
有钉缺陷试样数与被检试样数;c.
本标准编号,
检验单位、检验者和检验日期。7.2对于仲裁检验,还应包括标有钉缺陷大致位置的试样形貌图。附加说明:
本标准由中国有色金属工业总公司标准计壁研究所提出。本标准由上海有色金属研究所负责起草。本标推正要起草人施海青、金胜祖。本标准等效采用美国标准ASTMF815--83《外延钉缺陷检验方法》。607
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