- 您的位置:
- 标准下载网 >>
- 标准分类 >>
- 有色金属行业标准(YS) >>
- YS/T 24-1992 外延钉缺陷的检验方法

【有色金属行业标准(YS)】 外延钉缺陷的检验方法
本网站 发布时间:
2024-07-01 22:08:51
- YS/T24-1992
- 现行
标准号:
YS/T 24-1992
标准名称:
外延钉缺陷的检验方法
标准类别:
有色金属行业标准(YS)
标准状态:
现行-
发布日期:
1992-03-09 -
实施日期:
1993-01-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
44.45 KB
标准ICS号:
电气工程>>29.045半导体材料中标分类号:
冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合

点击下载
标准简介:
标准下载解压密码:www.bzxz.net
本标 准 规 定了外延钉缺陷的检验方法本标 准 适 用于任何直径与晶向的硅外延片上高度不小于4,u m 的钉缺陷存在与否的判断。如果钉缺陷比少且 彼此不相连,本标准可用十钉缺陷的汁数。本标 准 不 能测量钉缺陷的高度 YS/T 24-1992 外延钉缺陷的检验方法 YS/T24-1992

部分标准内容:
中华人民共和国有色金属行业标准外延钉缺陷的检验方法
主题内容与适用范围
本标准规定了外延钉缺陷的检验方法。YS/T 24-—92
本标准适用于任何直径与晶向的硅外延片上高度不小于4um的钉缺陷存在与否的判断。如果钉缺陷比较少且彼被此不相连,本标准可用于钉缺陷的计数。本标准不能测量钉缺陷的高度。2方法提要
将一片聚酯塑料薄膜以特殊方式沿三个不同方向推过试样表面,在两个或两个以上方向碰到的表面突起物被判定为钉缺陷。
3器具与材料
3.1真空吸片装置或镊子。
3.2聚酯塑料薄膜,厚度为25μm,面积为50mm×50mm。4试验样品wwW.bzxz.Net
抽样方案及试样数量由供需双方商定。5检验步骤
5.1将真空吸片装置吸住试样背面,或用镊子夹持住试样。对于仲裁检测,也可将试样外延面朝上置于清洁表面上。
5.2拇指和食指夹住聚酯塑料薄膜,使薄膜在拇指下延伸约25mm,并与试样表面成45°倾斜。5.3于参考面对面,将薄膜与试样接触,见图1。案酯膜
海膜移动力向
图1试样和聚酯膜放置方尚
5.4推动薄膜至主参考面(见图2中方向①)。中国有色金属工业总公司1992-03-09批准606
1993-01-01实施
YS/T24--92
图2移动方向
5.5使薄膜重复做一系列平行且互叠加的移动。5.6记下薄膜与突起物相碰的每一个位置。5.7对其余两个方向(见图2中方向②和方向③)重复5.5~5.6条。三个方向大致马成120°角。5.8在两个或两个以上方向上,聚酯塑料薄膜与试样表面突起物相碰的每个位餐,当作为一个钉缺陷。
注:必要时,可用显微镜检查钉缺陷的存在及位置。6精密度
本方法对单个实验室平均检出率为95%,精密度为土5%(R2S),对多个实验室平均检出率为92.6%,精密度为士10%(R2S)。7
试验报告
7.1对于批量验收,试验报告应包括:产品类型;
批编号:
有钉缺陷试样数与被检试样数;c.
本标准编号,
检验单位、检验者和检验日期。7.2对于仲裁检验,还应包括标有钉缺陷大致位置的试样形貌图。附加说明:
本标准由中国有色金属工业总公司标准计壁研究所提出。本标准由上海有色金属研究所负责起草。本标推正要起草人施海青、金胜祖。本标准等效采用美国标准ASTMF815--83《外延钉缺陷检验方法》。607
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。
主题内容与适用范围
本标准规定了外延钉缺陷的检验方法。YS/T 24-—92
本标准适用于任何直径与晶向的硅外延片上高度不小于4um的钉缺陷存在与否的判断。如果钉缺陷比较少且彼被此不相连,本标准可用于钉缺陷的计数。本标准不能测量钉缺陷的高度。2方法提要
将一片聚酯塑料薄膜以特殊方式沿三个不同方向推过试样表面,在两个或两个以上方向碰到的表面突起物被判定为钉缺陷。
3器具与材料
3.1真空吸片装置或镊子。
3.2聚酯塑料薄膜,厚度为25μm,面积为50mm×50mm。4试验样品wwW.bzxz.Net
抽样方案及试样数量由供需双方商定。5检验步骤
5.1将真空吸片装置吸住试样背面,或用镊子夹持住试样。对于仲裁检测,也可将试样外延面朝上置于清洁表面上。
5.2拇指和食指夹住聚酯塑料薄膜,使薄膜在拇指下延伸约25mm,并与试样表面成45°倾斜。5.3于参考面对面,将薄膜与试样接触,见图1。案酯膜
海膜移动力向
图1试样和聚酯膜放置方尚
5.4推动薄膜至主参考面(见图2中方向①)。中国有色金属工业总公司1992-03-09批准606
1993-01-01实施
YS/T24--92
图2移动方向
5.5使薄膜重复做一系列平行且互叠加的移动。5.6记下薄膜与突起物相碰的每一个位置。5.7对其余两个方向(见图2中方向②和方向③)重复5.5~5.6条。三个方向大致马成120°角。5.8在两个或两个以上方向上,聚酯塑料薄膜与试样表面突起物相碰的每个位餐,当作为一个钉缺陷。
注:必要时,可用显微镜检查钉缺陷的存在及位置。6精密度
本方法对单个实验室平均检出率为95%,精密度为土5%(R2S),对多个实验室平均检出率为92.6%,精密度为士10%(R2S)。7
试验报告
7.1对于批量验收,试验报告应包括:产品类型;
批编号:
有钉缺陷试样数与被检试样数;c.
本标准编号,
检验单位、检验者和检验日期。7.2对于仲裁检验,还应包括标有钉缺陷大致位置的试样形貌图。附加说明:
本标准由中国有色金属工业总公司标准计壁研究所提出。本标准由上海有色金属研究所负责起草。本标推正要起草人施海青、金胜祖。本标准等效采用美国标准ASTMF815--83《外延钉缺陷检验方法》。607
小提示:此标准内容仅展示完整标准里的部分截取内容,若需要完整标准请到上方自行免费下载完整标准文档。

标准图片预览:


- 热门标准
- 有色金属行业标准(YS)标准计划
- YS/T888-2013 废电线电缆分类
- YS/T62.4-2005 铝用炭素材料取样方法 第四部分 阴极糊
- YS/T62.3-2005 铝用炭素材料取样方法 第3部分 预焙阳极
- YS/T360.5-2011 钛铁矿精矿化学分析方法 第5部分:二氧化硅量的测定 硅钼蓝分光光度法
- YS/T62.2-2005 铝用炭素材料取样方法 第2部分 侧部炭块
- YS/T712-2009 手机电池壳用铝合金板、带材
- YS/T250-1994 核级碳化硼粉技术条件
- YS/T691-2009 氟化镁
- YS/T254.5-1994 铍精矿-绿柱石化学分析方法 离子选择电极法测定氟量
- YS/T254.2-1994 铍精矿-绿柱石化学分析方法 EDTA容量法测定三氧化二铁量
- YS/T262-1994 绿柱石精矿
- YS/T568.2-2006 氧化锆 氧化铪中铁量的测定(磺基水杨酸吸光光度法)
- YS/T568.7-2006 氧化锆 氧化铪中磷量的测定(锑盐-抗坏血酸钼蓝吸光光度法)
- YS/T569.1-2006 铊中铜量的测定(三氯甲烷萃取铜试剂吸光光度法)
- YS/T13-2007 高纯四氯化锗
请牢记:“bzxz.net”即是“标准下载”四个汉字汉语拼音首字母与国际顶级域名“.net”的组合。 ©2009 标准下载网 www.bzxz.net 本站邮件:[email protected]
网站备案号:湘ICP备2023016450号-1
网站备案号:湘ICP备2023016450号-1