本规范规定了显示电气和电子设备工作状态的故障探测指示器通用要求。本规范适用于以遮光器、球状物、旋转盘指示，且是机械或电气复位式的故障探测指示器。 SJ 20955-2006 故障探测指示器通用规范 SJ20955-2006

DL/T 664-2008 带电设备红外诊断应用规范 DL/T664-2008

SJ 51206-2-1996 60H30DY2型液氮制冷60光导碲镉汞红外探测器详细规范 SJ51206-2-1996

IEC 电子器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行地电子器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。本空白详细规范使半导体器件的一系列空白详细规范之一，并应与下列IEC标准一起使用。IEC 60747-10/QC

本标准规定了红外探测器的参数测试方法及其检测设备和仪器的要求。本标准适用于各类单红外探测器的参数测试，也适用于多红外探测器相应的参数测试。 GB/T 13584-1992 红外探测器参数测试方法 GB/T13584-1992

本标准规定了红外探测器成品外形的主要尺寸及其优选系列，以及引出端的编号、识别要求。本标准适用于室温型、杜瓦瓶制冷型、节流制冷型红外探测器，其他类型的红外探测器也可参照使用。 GB/T 13583-1992 红外探测器外形尺寸系列 GB/T13583-1992

本标准所指的焦平面，是敏感红外辐照的光敏阵列并带有读出电路的器件。本标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵焦平面。 GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范 GB/T17444-1998