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本部分适用于光电子器件的测试方法,用于光纤系统或子系统的除外。 GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 GB/T15651.3-2003
本部分等同采用IEC60747-5-2:1997《半导体分立器件和集成电器第5-2部分:光电子器件基本额定值和特性》。 GB/T 15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性 GB/T15651.2-2003
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