JJF 1203B-1990 0.633微米波长副基准操作技术规范 JJF1203B-1990

JJF 1203A-1990 0.633微米波长副基准操作技术规范 JJF1203A-1990

JJF 1126-2004 超声波测厚仪校准规范 JJF1126-2004 本校准规范适用于分辨力为0.1mm和0.01mm超声波测厚仪的校准。

JJF 1125-2004 滚刀检查仪校准规范 JJF1125-2004 本规范适用于滚刀检查仪的校准。

JJG 989-2004 光栅式测微仪检定规程 JJG989-2004 本规程适用于分辨力为0.01μm~1μm，测量范围至100mm的光栅式测微仪的首次检定、后续检定和使用中检验。

JJG 661-2004 平面等倾干涉仪检定规程 JJG661-2004 本规程适用于平面等倾干涉仪的首次检定、后续检定和使用中检验。

本规程适用于分度值不大于0.01mm、测量范围上限至8mm的读数显微镜，以及分度值不大于0.01mm、测量范围：纵向为(0～50)mm、橫向为(0～13)mm的测量显微镜的首次检定、后续检定和使用中检验。 JJG 571-2004 读数、测量显微镜检定规程 JJG571-2004 本规程适用于分度

JJG 109-2004 百分表式卡规检定规程 JJG109-2004 本规程适用于分度值为0.01mm，测量范围为（0~50）、（50~100）、（100~200）、（200~300）、（300~400）、（400~500）、（500~600）、（600~700）、（700~800）、（800~

JJG 101-2004 接触式干涉仪检定规程 JJG101-2004 本规程适用于接触式干涉仪的首次检定、后续检定和使用中检验。

JJG 39-2004 机械式比较仪检定规程 JJG39-2004 本规程适用于分度值为0.5μm,1μm,2μm.5μm,10μm的机械式比较仪的首次检定、后续检定和使用中检验。