【行业标准】 小测头千分尺校准规范

(浙）
浙江省地方计量技术规范
JJF（浙）1131—2016
小测头千分尺校准规范
CalibrationSpecificationforSmallanviImicrometer2016-03-16发布
2016-04-20实施
浙江省质量技术监督局发布
JJF（浙)1131-2016
小测头千分尺校准规范
CalibrationSpecification
forSmallanvil
归口单位：浙江省质量技术监督局主要起草单位：浙江省计量科学研究院萧山区质量计量监测中心
浙江省方正校准有限公司
绍兴市质量技术监督检测院
参加起草单位：萧山区质量计量监测中心本规范技术条文由起草单位负责解释JJF（浙）1131-2016
主要起草人：
JJF（浙）1131-2016
黄伟城（浙江省计量科学研究院）陆益（浙江省计量科学研究院）吴国伟（萧山区质量计量监测中心）汪正亚（浙江省方正校淮有限公司徐隽（浙江省计量科学研究院）李霞 (绍兴市质量技术监督检测院）参加起草人：
吕超群（萧山区质量计量监测中心）引言
范围·
引用文献
术语和计量单位
3.1示值变动性www.bzxz.net
计量特性
JJF（浙）1131-2016
测微螺杆的轴向窜动和径向摆动测砧与测微螺杆测量面的偏移量测力
刻线宽度及宽度差，
微分筒锥面的端面至固定套筒刻线面的距离….·5.6微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置·5.7
测量面的平面度
示值变动性
两测量面的平行度…
示值误差
细分误差·
小测头千分尺校对用量杆尺寸和尺寸变动量校准条件
环境条件.
校准项目和校准设备
校准方法
测微螺杆的轴向窜动和径向摆动测砧与测微螺杆测量面的偏移量测力
· (1)
（1）
（2）
·(2）
（4）
刻线宽度及宽度差：
JJF（浙)1131-2016
微分筒锥面的端面至固定套筒刻线面的距离微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置测量面的平面度
示值变动性·
两测量面的平行度：
示值误差
细分误差·
7.13校对用量杆尺寸和尺寸变动量：8
校准结果表达·
复校时间间隔·
附录A小测头千分尺示值误差测量结果不确定度评定.附录B
校准证书或校准报告内容
（7）
·（7)
（7）
（8）
· (9)
· (14)
JJF (浙)1131-2016
JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF1001-2011《通用计量术语及定义》、JJF1059.1-2012《测量不确定度评定与表示》、JB/T10005-2012《小测头千分尺》共同构成小测头千分尺的计量技术法规。本技术规范首次发布。
1范围
JJF（浙)1131-2016
小测头千分尺校准规范
本规范适用于分度值/分辨力为0.001mm、0.01mm，测量上限至100mm的小测头千分尺的校准。
引用文献
JJF1001-2011通用计量术语及定义JJF1059.1-2012测量不确定度评定与表示JB/T10005-2012小测头千分尺
凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本规范；凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用本规范。3术语和计量单位
3.1示值变动性
在一组重复性测量条件下进行多次测量示值的最大值与最小值之差。4概述
小测头千分尺是应用螺旋副结构，将回转运动变为直线运动的计量器具，其测微螺杆和固定测砧为小测头形式，测量杆直径有2mm和3mm两种。主要用于测量各种工件的外尺寸。它由尺架、固定测砧、测微螺杆、测力装置、锁紧装置和读数装置等组成。其外形结构如图1、图2所示。6
0-25mm
图1小测头千分尺
1一尺架2—固定测砖3—测微螺杆4—锁紧装置5—固定套筒6—微分筒7—测力装置8—护板装置-
JJF（浙)1131-2016
25-50m
图2数显小测头千分尺
1一尺架2一周定测砧3一—测微螺杆4—微分筒5—测力装置6—显示屏7—护板装置5计量特性
5.1测微螺杆的轴向窜动和径向摆动测微螺杆的轴向窜动和径向摆动应不大于0.01mm。测砧与测微螺杆测量面的偏移量5.2
测砧与测微螺杆测量面的偏移量应不超过表1的规定。表1测砧与测微螺杆测量面的偏移量测量范围上限/mm
5.3测力
偏移量/mm
小测头千分尺的测力系指测微螺杆测量面与量具测力仪平面接触时所作用的力为(3～6)N。
5.4刻线宽度及宽度差
微分简刻线宽度为（0.08～0.20）叫，固定套筒上的刻线与微分简上的刻线的宽度差不大于0.03mm。
5.5微分简锥面的端面棱边至固定套简刻线面的距离微分简锥面的端面棱边至固定套简刻线面的距离不大于0.4mm。微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置5.6
JJF(浙)1131-2016
当测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套筒纵刻线对准时，微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于0.05mm离线不大于0.1mm。
5.7测量面的平面度
小测头千分尺测量面的平面度不大于0.6um。5.8示值变动性
数显小测头千分尺的示值变动性不大于1um。5.9漂移
数显小测头千分尺任意位置时数值漂移不大于1m/h。5.10两测量面的平行度
小测头千分尺锁紧装置紧固和松开时，小测头千分尺两测量面的平行度不超过表2的规定。
5.11示值误差
小测千分尺示值误差不超过表2的规定表2示值误差
测量范围/mm
025，25~50
50~75，75~100
5.12细分误差
两测量面的平行度/m
最大允许误差/um
数显小测头千分尺数显装置的细分误差不超过土2um。5.13校对用量杆尺寸和尺寸变动量小测头千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量不超过表3的规定。表3校对用量杆尺寸和尺寸变动量校对量杆标称尺寸/mm
25，50
尺寸偏差的最大允许误差/um
注：以上指标不用于合格性判断，仅供参考。变动量/μm
校准条件
6.1环境条件
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校准小测头千分尺和校对用的量杆的室内温度和室内平衡温度的时间应在表4的范围内。室内相对湿度不大于70%RH。表4室内温度和室内平衡温度
测量范围/mm
(0～100）
室内温度对20℃的允许偏差/℃
小测头千分尺
校准项目和校准设备
校对用的量杆
小测头千分尺校准项目和校准设备见表5。表5：
校准项目和校准设备
校准项目
测微螺杆的轴向窜动和径向摆动测与测微螺杆测量面的偏移量
刻线宽度及宽度差
微分筒锥面的端面棱边至固定套筒刻线面的距离
微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置
测量面的平面度
示值变动性
两测量面的平行度
示值误差
细分误差
校对用量杆尺寸和尺寸变动量
平衡温度的时间/h
主要校准设备
杠杆千分表
1级检验平板、杠杆百分表或百分表量具测力仪MPE：土1.0%
工具显微镜MPE：土（1+L/100）μm读数显微镜MPEV：0.01mm
工具显微镜或读数显微镜、塞尺2级平面平晶
5等或3级量块
平行平晶MPEV：（0.6~1.0）μm5等或3级量块
微分筒及5等或3级量块
光学计、测长机、4等或2级量块7
校准方法
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首先检查外观，确定没有影响计量特性因素后再进行校准。7.1测微螺杆的轴向窜动和径向摆动一般情况下用手感检查测微螺杆的轴向窜动和径向摆动。有异议时，可按下列方法校准。
7.1.1测微螺杆的轴向窜动，用杠杆千分表校准。校准时，杠杆千分表与测微螺杆测量面接触，沿测微螺杆轴向方向分别往返加力（3～5）N，如图3所示。杠杆千分表示值的变化，即为轴向窜动量。7.1.2测微螺杆的径向摆动，用杠杆千分表校准。校准时，将测微螺杆伸出尺架10mm后，使杠杆千分表接触测微螺杆的端部，再沿杠杆千分表测量方向加力（2～3）N，然后在相反方向加同样大小的力，此时杠杆千分表示值的变化即为径向摆动量。径向摆动的校准应在测微螺杆相互垂直的两个方向进行。此过程如图4所示。
测力计
杠杆千分表
加力方向
图3轴向加力示意图
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