本标准规定了金属氧化物半导体气敏件性能参数测试方法的基本原理，没有规定这些方法在实际使用时的技术细节，测试时可按相应的详细规范的规定进行。本标准适用于金属氧化物半导体气敏件性能参数的测试，其他气敏件亦可参照使用。 GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法 GB/T15653-

本规范规定了金属氧化物半导体气敏件质量评定程序、试验和测量方法、包装和储运的一般要求。具体要求和特性在相应的空白详细规范和详细规范中规定。本规范适用于金属氧化物半导体气敏件，其他气敏件亦可参照采用。 GB/T 15652-1995 金属氧化物半导体气敏元件总规范 GB/T15652-1995

本标准规定了红外探测器的环境试验方法。本标准所述的试验方法为人工环境的试验方法。本标准适用于非报警红外探测器的各类环境试验。本标准通常是用于在条件试验期间能达到稳定温度的试验样品——即非散热样品。 GB/T 15430-1995 红外探测器环境试验方法 GB/T15430-1995

本标准规定了发射管电气强度的测试方法。本标准适用于阳极耗散功率25W以上的空间电荷控制的振荡、调制、调整和功率放大管电气强度的测试。 GB/T 3789.17-1991 发射管电性能测试方法 电气强度的测试方法 GB/T3789.17-1991