本文件描述了闪烁体的相对光输出、相对能量转换效率、α-β比、固有脉冲幅度分辨率、闪烁光衰减长度、发射光谱、时间特性、辐照硬度、自身放射性水平、β-γ比和n-γ比、温度效应、闪烁体阵列的不均匀性、光串扰等的测量方法。 本文件适用于常用固体闪烁体的性能测量。

GB 8993.9-1988 核仪器环境试验基本要求与方法包装运输试验 GB8993.9-1988

GB 8993.5-1988 核仪器环境试验基本要求与方法冲击试验 GB8993.5-1988

GB 8993.10-1988 核仪器环境试验基本要求与方法淋雨试验 GB8993.10-1988

本标准规定了高、低压直流稳压电源的测试方法。本标准适用于核仪器用高、低压直流稳压电源。 GB/T 10261-1988 核仪器用高、低压直流稳压电源测试方法 GB/T10261-1988

本标准规定了半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要特性的测量方法。本标准适用于半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要性能的测量。 GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 GB/T11685-2003

为了便于核电子仪器用样品盘的互换性，本标准规定了井型、平板和碟型样品盘尺寸，在特殊情况下，不排除使用其他尺寸或形状的样品盘。本标准等效采用IEC 248-1984《核电子仪器用样品盘尺寸》。 GB/T 8996-1988 核电子仪器用样品盘尺寸 GB/T8996-1988