SJ 2658.10-1986 半导体红外发光二极管测试方法 调制带宽的测试方法}
								
							                        SJ 2658.10-1986 半导体红外发光二极管测试方法 调制带宽的测试方法 SJ2658.10-1986
								SJ 2658.8-1986 半导体红外发光二极管测试方法 法向辐射率的测试方法}
								
							                        SJ 2658.8-1986 半导体红外发光二极管测试方法 法向辐射率的测试方法 SJ2658.8-1986
								SJ 2658.3-1986 半导休红外发光二极管测试方法 反向电压的测试方法}
								
							                        SJ 2658.3-1986 半导休红外发光二极管测试方法 反向电压的测试方法 SJ2658.3-1986
								SJ 2658.1-1986 半导体红外发光二极管测试方法 总则}
								
							                        SJ 2658.1-1986 半导体红外发光二极管测试方法 总则 SJ2658.1-1986
								JB/T 10875-2008 发光二极管光学性能测试方法}
								
							                        本标准规定了在额定电流工作条件下的半导体发光二极管(以下简称LED器件)光学性能测试方法。本标准适用于单色可见光、白光LED器件光学性能测试,组件和效率器件的光学性能测试参照执行.本标准是一种推荐性的测试方法,只要达到同样的测量目的,也可采用其他的测试方法。 JB/T 10875-2008 发光二极
								SJ 2452-1984 磷化镓黄绿色发光二极管}
								
							                        SJ 2452-1984 磷化镓黄绿色发光二极管 SJ2452-1984
								SJ 2451-1984 磷化镓红色发光二极管}
								
							                        SJ 2451-1984 磷化镓红色发光二极管 SJ2451-1984
CopyRight 2025 www.bzxz.net All Rights Reserved 湘ICP备2025141790号-2
本网站所展示的内容均由用户自行上传发布,本站仅提供信息存储服务。若您认为其中内容侵犯了您的合法权益,请及时联系我们处理,我们将在核实后尽快删除相关内容。