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SJ 2658.1-1986 半导体红外发光二极管测试方法 总则 SJ2658.1-1986
本标准规定了在额定电流工作条件下的半导体发光二极管(以下简称LED器件)光学性能测试方法。本标准适用于单色可见光、白光LED器件光学性能测试,组件和效率器件的光学性能测试参照执行.本标准是一种推荐性的测试方法,只要达到同样的测量目的,也可采用其他的测试方法。 JB/T 10875-2008 发光二极
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