本标准规定了用直流两探针测量硅和锗单晶锭电阻率的方法。本标准适用于测量截面积均匀的圆形、方形或矩形单晶锭的电阻率。 GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法 GB/T1551-1995

本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测定方法。本标准适用于非本征半导体材料导电类型的测定，其中较详细地规定了锗和硅导电类型的测试方法。本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得的可靠结果，对于非均匀试样，可在其表面上测出不同导电类型区域。本标准方法不适用于分层结构试样，如外延片的导电类型的测定

本标准适用于用标准漏斗法测定金属粉末的流动性。凡能自由流过孔径为2.5mm标准漏斗的粉末，均可采用本标准。 GB/T 1482-1984 金属粉末流动性的测定 标准漏斗法(霍尔流速计) GB/T1482-1984

本标准规定了测定金属粉末粒度组成的干筛分法。本标准适用于干的、不含润滑剂的金属粉末。本标准不适用于明显不等轴的金属粉末(如片状粉末)及颗粒尺寸全部或大部分小于45μm的金属粉末。 GB/T 1480-1995 金属粉末粒度组成的测定 干筛分法 GB/T1480-1995

本标准这一部分规定了用标准漏斗法测定金属粉末松装密度的方法。本方法仅适用于能自由流过孔径为2.5mm或5.0mm标准漏斗的粉末。本标准的其他部分规定了不能通过孔径为5.0mm标准漏斗的粉末松装密度测定方法。 GB/T 1479-1984 金属粉末松装密度的测定 第一部分:漏斗法 GB/T1479-1

本标准规定了采用差热分析仪(DTA)或差示扫描量热计(DSC)测定贵金属及其合金熔化温度范围的方法。本标准适用于熔化开始时呈现“一致性熔化过程”为特征的贵金属及其合金的固相线温度及液相线温度的测定。本标准也适用于其余类型贵金属合金的液相线温度、其他种类金属合金的相应特征温度以及能呈现明显峰形的固相转

本标准规定了贵金属及其合金材料电阻系数、单位长度电阻和质量电阻系数的测试方法。本标准适用于横截面积均匀的贵金属及其合金线材、带材的电阻系数、单位长度电阻和质量电阻系数的测定。其他金属及合金材料亦可参照使用。 GB/T 1424-1996 贵金属及其合金材料电阻系数测试方法 GB/T1424-1996

本标准规定了贵金属及其合金材料室温密度的测定方法。本标准适用于贵金属及其合金材料室温密度的测定。其他金属及合金材料以及部分非金属固体材料亦可参照使用。本标准不适用于粉末材料及多孔材料密度的测定。 GB/T 1423-1996 贵金属及其合金密度的测试方法 GB/T1423-1996

本标准规定了金属材料电阻系数测量方法的名词术语、测量仪器、试样、测量程序、测量结果及计算、试验记录及报告。 本标准适用于黑色金属线材制品及其他导电材料的电阻、电阻系数、质量电阻率及单位长度电阻的测量，并作为测定标准条件下电阻系数在0.01～2.0Ω·mm2/m范围内的仲裁测量方法。 GB/T 351

本标准规定了贵金属浆料方阻的测试方法。本标准适用于贵金属烧结型浆料方阻的测定。非贵金属浆料亦可参照使用。 GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定 GB/T17473.3-1998