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GB/T1551-1995 GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法

标准编号:GB/T1551-1995 整理时间:1995-04-18 浏览次数:11
资料名称: GB/T1551-1995 GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法
标准类别: 国家标准(GB)
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态: 现行◎
作废日期:
发布日期: 1995-04-18◎
实施日期: 1995-01-02◎
首发日期: 1979-05-26◎
复审日期: 2004-10-14◎
出版日期:
标准编号: GB/T 1551-1995
标准名称: 硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法
下载文件: .rar .pdf .doc
标准简介: 本标准规定了用直流两探针测量硅和锗单晶锭电阻率的方法。本标准适用于测量截面积均匀的圆形、方形或矩形单晶锭的电阻率。 GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法 GB/T1551-1995 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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替代情况: GB 1551-1979 GB 5253-1985(参考)
采标情况: ,(参考)
发布部门: 国家技术监督局(参考)
提出单位: (参考)
归口单位: 全国半导体材料和设备标准化技术委员会(参考)
主管部门: 国家标准化管理委员会(参考)
起草单位: 上海有色金属工业总公司(参考)
起 草 人: (参考)
出 版 社:

中国标准出版社(参考)

页  数: 平装16开, 页数:13, 字数:20千字(参考)
书  号: (参考)
计划单号: (参考)
下载次数: 0次
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