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GB/T1555-1997 GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法

标准编号:GB/T1555-1997 整理时间:1997-01-02 浏览次数:8
资料名称: GB/T1555-1997 GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
标准类别: 国家标准(GB)
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态: 现行◎
作废日期:
发布日期: 1997-01-02◎
实施日期: 1998-08-01◎
首发日期: 1979-05-26◎
复审日期: 2004-10-14◎
出版日期: 2004-04-01◎
标准编号: GB/T 1555-1997
标准名称: 半导体单晶晶向测定方法
下载文件: .rar .pdf .doc
标准简介: 本标准规定了半导体单晶晶向X射线衍射定向和光图定向的方法。本标准适用于测定半导体单晶材料大致平行于低指数原子面的晶体的表面取向。 GB/T 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法 GB/T1555-1997 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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替代情况: GB 1555-1979 GB 1556-1979 GB 5254-1985 GB 5255-1985 GB 8759-1988(参考)
采标情况: =ASTM F26-87a(参考)
发布部门: 国家技术监督局(参考)
提出单位: (参考)
归口单位: 全国半导体材料和设备标准化技术委员会(参考)
主管部门: 国家标准化管理委员会(参考)
起草单位: 峨嵋半导体材料厂(参考)
起 草 人: (参考)
出 版 社:

中国标准出版社(参考)

页  数: 平装16开, 页数:8, 字数:12千字(参考)
书  号: 155066.1-14909(参考)
计划单号: (参考)
下载次数: 1次
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