【GB国家标准】 纳米技术 氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法

GB/T 40066-2021.Nanotechnologies- Thickness measurement of graphene oxide-Atomic Force Microscopy (AFM).
1范围
GB/T 40066规定了原子力显微镜法( AFM)测量氧化石墨烯厚度的样品制备、测量步骤及结果计算等。
GB/T 40066适用于片径尺寸不小于300 nm的氧化石墨烯厚度的测量。其他二维材料厚度的AFM测量可参照使用。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 27760利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
GB/T 30544.13纳米科技术语第13部分:石墨烯及相关二维材料
JJF 1351扫描探针显微镜校准规范
3术语和定义
GB/T 27760、GB/T 30544.13和JJF 1351界定的术语和定义适用于本文件。为了便于使用,以下重复列出了GB/T30544.13中的某些术语和定义。
3.1
氧化石墨烯 graphene oxide;GO
对石墨进行氧化及剥离后所得到的化学改性石墨烯,其基平面已被强氧化改性。
注:氧化石墨烯是具有高氧含量的单层材料，通常由碳氧原子比(与合成方法有关,一般约为2.0)表征。
[GB/T 30544.13-2018,定 义3.1.2.13]