【电子行业标准(SJ)】天线测试方法在天线测试场测量天线辐射方向图

本网站发布时间： 1984-11-01 16:00:00

SJ2534.3-1984
现行

基本信息

标准号：
SJ 2534.3-1984
标准名称：
天线测试方法在天线测试场测量天线辐射方向图
标准类别：
电子行业标准(SJ)
标准状态：
现行
发布日期：
1984-11-01
实施日期：
1985-07-01
出版语种：
简体中文
下载格式：
.rar.pdf
下载大小：
KB

标准分类号

中标分类号：
综合>>标准化管理与一般规定>>A01技术管理

关联标准

采标情况：
IEEE NEQ

出版信息

页数：
8页
标准价格：
14.0 元
出版日期：
1985-06-01

其他信息

起草人：
柯树人、王书惠
起草单位：
电子工业部39所
提出单位：
电子工业部标准化研究所
发布部门：
中华人民共和国电子工业部

标准简介/下载

点击下载

标准简介：

本标准适用于在天线测试场测量天线的辐射方向图，重点放在天线辐度方向图的测量。本标准中始终假定受试天线是一个无源、线性，可逆的装置，所以它的辐射转性既可以在发射状态也可以在接收状态下测量。否则应当在天线系统所设计的使用状态下进行测量。本标准中如无特殊说明，则受试天线是用于接收状态。 SJ 2534.3-1984 天线测试方法在天线测试场测量天线辐射方向图 SJ2534.3-1984 标准下载解压密码：www.bzxz.net

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【电子行业标准(SJ)】 天线测试方法 在天线测试场测量天线辐射方向图

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