| 资料名称： | SJ/T10739-1996 SJ/T 10739-1996 半导体集成电路 ＭＯＳ随机存储器测试方法的基本原理 |
| 标准类别： | 电子行业标准(SJ) |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | 现行◎ | ||
| 作废日期： | ◎ | ||
| 发布日期： | 1996-11-20◎ | ||
| 实施日期： | 1997-01-01◎ | ||
| 首发日期： | ◎ | ||
| 复审日期： | ◎ | ||
| 出版日期： | ◎ |
| 标准编号： | SJ/T 10739-1996 | |
| 标准名称： | 半导体集成电路 ＭＯＳ随机存储器测试方法的基本原理 | |
| 下载文件： | .rar .pdf .doc | |
| 标准简介： | SJ/T 10739-1996 半导体集成电路 ＭＯＳ随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 标准下载解压密码：www.bzxz.net | |
| 链接地址： | 正在调入地址 | |
| 替代情况： | 原标准号GB 3443-82（参考） | |
| 采标情况： | IEC 147-2 NEQ（参考） | |
| 发布部门： | （参考） | |
| 提出单位： | （参考） | |
| 归口单位： | （参考） | |
| 主管部门： | （参考） | |
| 起草单位： | （参考） | |
| 起 草 人： | （参考） | |
| 出 版 社： | （参考） |
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| 页 数： | 31页（参考） | |
| 书 号： | （参考） | |
| 计划单号： | （参考） | |
| 下载次数： | 19次 | |
