【国家标准(GB)】 硅片直径测量方法 光学投影法

本网站 发布时间: 1993-02-06 16:00:00
  • GB/T14140.1-1993
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 14140.1-1993

  • 标准名称:

    硅片直径测量方法 光学投影法

  • 标准类别:

    国家标准(GB)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    1993-02-06
  • 实施日期:

    1993-10-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    KB

标准分类号

  • 标准ICS号:

    冶金>>金属材料试验>>77.040.01金属材料试验综合
  • 中标分类号:

    冶金>>半金属与半导体材料>>H81半金属

关联标准

  • 采标情况:

    ASTM F613-1982,EQV

出版信息

  • 页数:

    4页
  • 标准价格:

    8.0 元

其他信息

  • 首发日期:

    1993-02-06
  • 复审日期:

    2004-10-14
  • 起草单位:

    洛阳单晶硅厂
  • 归口单位:

    全国半导体材料和设备标准化技术委员会
  • 发布部门:

    国家技术监督局
  • 主管部门:

    国家标准化管理委员会
标准简介标准简介/下载

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标准简介:

本标准规定了用光学投影仪测量硅片直径的方法。本标准适用于测量圆形硅片的直径。测量范围为声φ40~φ100mm本标准不适用于测量硅片的不圆度。本标准用作仲裁测量方法。 GB/T 14140.1-1993 硅片直径测量方法 光学投影法 GB/T14140.1-1993 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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