| 资料名称： | GB5594.3-1985 GB 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 |
| 标准类别： | 国家标准(GB) |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | 现行◎ | ||
| 作废日期： | ◎ | ||
| 发布日期： | 1985-11-27◎ | ||
| 实施日期： | 1986-12-01◎ | ||
| 首发日期： | 1985-11-27◎ | ||
| 复审日期： | 2004-10-14◎ | ||
| 出版日期： | ◎ |
| 标准编号： | GB 5594.3-1985 | |
| 标准名称： | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 | |
| 下载文件： | .rar .pdf .doc | |
| 标准简介： | 本标准适用于测量室温至800℃各个阶段中电子器件结构陶瓷的平均线膨胀系数。 GB 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 GB5594.3-1985 标准下载解压密码：www.bzxz.net | |
| 链接地址： | 正在调入地址 | |
| 替代情况： | （参考） | |
| 采标情况： | （参考） | |
| 发布部门： | 国家标准局（参考） | |
| 提出单位： | 中华人民共和国电子工业部（参考） | |
| 归口单位： | 信息产业部（电子）（参考） | |
| 主管部门： | 信息产业部（电子）（参考） | |
| 起草单位： | 电子工业部12所（参考） | |
| 起 草 人： | 李蓝瑞（参考） | |
| 出 版 社： | 中国标准出版社（参考） |
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| 页 数： | 2页（参考） | |
| 书 号： | （参考） | |
| 计划单号： | （参考） | |
| 下载次数： | 18次 | |
