资料名称: | SJ20789-2000 SJ 20789-2000 MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法 |
标准类别: | 电子行业标准(SJ) |
语 言: | 简体中文 | ||
授权形式: | 免费下载 | ||
标准状态: | 现行◎ | ||
作废日期: | ◎ | ||
发布日期: | 2000-10-20◎ | ||
实施日期: | 2000-10-20◎ | ||
首发日期: | ◎ | ||
复审日期: | ◎ | ||
出版日期: | 2000-10-20◎ |

标准编号: | SJ 20789-2000 | |
标准名称: | MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法 | |
下载文件: | .rar .pdf .doc | |
标准简介: | 本规范规定了MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选的试验方法。本规范适用于MOS场效应晶体管(以下简称电阻器)热敏参数快速筛选。 SJ 20789-2000 MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法 SJ20789-2000 标准下载解压密码:www.bzxz.net | |
链接地址: | 正在调入地址 | |
替代情况: | (参考) | |
采标情况: | (参考) | |
发布部门: | 中华人民共和国信息产业部(参考) | |
提出单位: | 中华人民共和国信息产业部(参考) | |
归口单位: | 中国电子技术标准化研究所(参考) | |
主管部门: | (参考) | |
起草单位: | 杭州电源技术研究所(参考) | |
起 草 人: | 叶奇放、易本健、赵英等(参考) | |
出 版 社: | 工业电子出版社(参考) |
|
页 数: | 5页(参考) | |
书 号: | (参考) | |
计划单号: | (参考) | |
下载次数: | 5次 |