| 资料名称： | SJ20636-1997 SJ 20636-1997 IC用大直径薄硅片的氧、碳含量微区试验方法 |
| 标准类别： | 电子行业标准(SJ) |
| 语 言： | 简体中文 | ||
| 授权形式： | 免费下载 | ||
| 标准状态： | 现行◎ | ||
| 作废日期： | ◎ | ||
| 发布日期： | 1997-06-17◎ | ||
| 实施日期： | 1997-10-01◎ | ||
| 首发日期： | ◎ | ||
| 复审日期： | ◎ | ||
| 出版日期： | ◎ |
| 标准编号： | SJ 20636-1997 | |
| 标准名称： | IC用大直径薄硅片的氧、碳含量微区试验方法 | |
| 下载文件： | .rar .pdf .doc | |
| 标准简介： | SJ 20636-1997 IC用大直径薄硅片的氧、碳含量微区试验方法 SJ20636-1997 标准下载解压密码：www.bzxz.net | |
| 链接地址： | 正在调入地址 | |
| 替代情况： | （参考） | |
| 采标情况： | （参考） | |
| 发布部门： | （参考） | |
| 提出单位： | （参考） | |
| 归口单位： | （参考） | |
| 主管部门： | （参考） | |
| 起草单位： | （参考） | |
| 起 草 人： | （参考） | |
| 出 版 社： | （参考） |
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| 页 数： | 10页（参考） | |
| 书 号： | （参考） | |
| 计划单号： | （参考） | |
| 下载次数： | 4次 | |
