【行业标准】 混合微电路详细规范HSH91型精密双采样保持放大器

中华人民共和国电子行业军用标准FL5962
SJ50597/14—94
混合微电路详细规范
HSH91型精密双采样/保持放大器Detail spccification for hybrid microcircuitsHSH91 precision dual sample/hold amplifier1994-09-30发布
1994-12-01实施
中华人民共和国电子工业部批准中华人民共和国电子行业军用标准混合微电路详细规范
HSH91型精密双采样/保持放大器Detait specification far hybrid microcircuitsHSH91 precistion dual sample/hold arnplifier1范围
SJ 50597/14-94
1.1主题内容
本现范规定【混合微电路HSH91型精密双采祥/保持放大器（以下简称电路）的详细要求。
1.2适用范围
本规范适用于该电路的研制、生产和采。1.3分类
本规范给出的电路接电路等级、封装形式分类。1.3.1电路编号
电路编号应按GJB597<微审路总规范>中3.6.2条的规定。1.3.1.1中路型号
电路型
1.3.1.2电路等级免费标准bzxz.net
电路等级应为GIB597中规定的H级和K级1.3.1.3封装形式
封装形式如下：
1.3.2绝对最大额定值
绝对最大额定值如下
精宽双采样！保持放大器
封装形式(GR/T15138(膜集成电路和混合策成电路外形尺寸）M24065Q（金厦双列浅腔封装）
L24063(陶瓷双列封装）
中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布1994-12-01实施
-rKAONKAca-
正电源电压
负电源电压
逻孵输人电压
棋拟输人电压
贴存温度
引线耐焊接温度
1.3.3推荐T作条件
正电源电压
负电源电压
模似输人电压
逻辑输人电压
输人抗
输出阻抗
工作环境温度
引用文件
GB3442—86
GB/T 15138--94
GJB548
GJB 597
3要求
3.1详细要求
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半导体集成电路运算放大器测试方法的基本愿理膜集成电路和混合集成电路外形尺寸微电于器件试验方法和程序
微电路总规范
各项要求应按GJB597和本规范的规定。3.2设计、结构和外形尺
设计，结构和外形尺寸应符合GJB597和本规范的规定：3.2.1封装形式
封装形式按GB/T15138膜集成皂路和混合集成电路外形尺寸的规定。3.2.2引出排列
引出端排列应符合图1的规定。引出端符合号的含义见附录A（补充件）单
3.2.3电路图
3.2.4功能图、时序图
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引出端排列
图2 电路框图
3.2.4.1单通道采样/保持功能图、时序图分别见图3a、图3b。MUXOLT
rYrKAoNiKAca-
输入通道
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ASTASC
图3单通道采样/保持功能图
图36单通道炙样/保持时序图
3.2.4.2同步采样/保持功能图，时序图分别见图4a、图4b。4
输入通道
MUXSEL
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MUXOLT
图4a向步采样/保持功能图
MUXSEL
MUxQUT
图4h同步采样/保持时序图
-TrKAONiKAa-
3.3电特性
SJ 50597/14 - 94
除非另有规定，电特性应符合表1规定，并在整个下作温度范围内适用。表1、电特性
增益误差
增益线性误差
增益限踪
增益温度系效
输入失调电压
通道交叉揭合
采巢时间
小信号带宽
电压跌藉率
孔径抖动时间
静念工作电流
除非另有规定
-55 T ≤110C
A = 1.25C
见图5
25℃见图5
见图5
见图5
25,见图5
25, 按 GB 3442 中 2. 20
条，见座5
10V, ±0.2mV,见图 6
10V,±1mV,见图6
25℃.见图6
85℃，见图6
125t,免图6
见图7
15V(DC)
- 15V(DC)
注：V=15±0.5V, V.=-15 =0.5V.3.4电试验要求
3.4.1电试验的有关分组
极限值
1 - 0. 02%1 + 0. 02%
0.003%FSR
50×10~6
10×10-5
A组分姐
(1,2,3)
电试验的有关分组按本规范表2 的规定,各分组的电测试应按本规范表 1 和 3.4.2 条的规定。
表2电试验要求
GJB548试验要求
中间电测试
最终电测试
A组检验要求
C组终点电测试(方法 5008)
3.4.2电参数的测试
3.4.2.1增益误差Ec。
分组(按方法 5008,A组试验表)
AI,A2,A3,A4
A1, A2, A3,A4, A5, Ab
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测试条件和测试线路见图5,按下式计算：Ec ~ IYo_ yilmax
式中：Vo一实际输出电压,V;
V,——标称输入电压(等于基准輪人电压),V;Vpso -满量程电压, V。
- 15±0.5V
- 15 ±0 5V
多路基准电压源
控询信号
图5增益误差等参数测试线路
3.4.2.2增益线性误差Ecl
测试线路和测试线路见图5,按下式计算：EcL=
Vo|max
七位半
数字电出表
式中：|aVol|max--实际中压转移特性曲绒与最佳拟合直线之间的最大偏差，V;(1)
-满量程电压,V。
在规定的满量程电压范围内，逐步调节输人电压V：，并测出相应于每V的输出电压V。V-Va曲线即为实际电压转移特性曲线，并出此确定其最佳特性直线。3.4.2.3增益跟踪E1
测试条件和测试线路见图5，E，为采样状态下，电路的两个通道在相同输人电压下增益的相对差值。
3.4.2.4增益温度系数 口A
测试条件和溯试线路见图5,按下式计算：AEG
αA = EG AT
式中AEG温度变化时的增益误差变化值；AT—温度变化量,C;
Ec——25℃下的增益误差值。
3.4.2.5输入失谢电压 V1n
测试条件和测试线路见图5。在采样状态下，输入端加入一补偿电压，使输出为零，该补TKAONKAca
偿电压即为输入失调电压。
3.4.2.6采时间1AC
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测试条件和测试线路见图6和表1。改变控制脉冲信号t的意度，使相减器的输出刚刚能进入规定的误差内，此时t，即为采集时间tAC。电源
—±0.5V
输入信
控制信导
3.4.2.7电压跌洛率Svp
高速，高精害
相减器
图6采集时间测试线路
MHz样
示波器
测试条件和测试线路见图6和表1。输入信号为10V基准电压，控制信号为1ms方波信号，按下式计算：
式中;V—示波器上读出的电压跌落值，V；At—-时间间，sp
3.4.2.8孔径抖动时间 tA
测试条件和测试线路见图7。从示波器上可直接读出孔轻抖动时间*。输入信号和控制信导的抖动可以忽略不计。
--15±0.5V
输人信号
控制信号
图了孔径抖动测试线路
000MHz联梯
京波器
3.5标志
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标志,应符合 GJB 597 募 3,6 条的现定。4质量保证规定
4.1抽样和检验
除本规范另有规定外,抽样和检验程序应符合 GJB 597 和 GJB 548 方法 5008 的规定。4.2筛选
在质量一致性检验之前，全部屯路应按GJB548方法5008的规定进行筛选，并增加以下内容：
老化试验按GJB548方法1015规定进行，老化试验线路见图 B，T=110℃ b，中间电测试和最终电测试应符合本规范表2要求。+15v
E测量
输入选择
S/选择
輪出选择
老化20
AENBENV
图8老化试验线路
注：个f为100kH 10V方波信号：fz为10V 50kHz方波信号：
F，为5V25kHz方被信号：
① ff 和 f 为同步信号。
4.3质量--致性检验
MUXOUT
质量一致性检验应按GJB597和本规范的规定进行，所完成的检验应是GJB548方法5008利本规范规定的A、3、C和D组验（见4.3.1~4.3.5)。4.3.1 A组检验
A组检验应接GJ3548和下述规定行：9
TKAONKAca
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．试验应按本规范表2的规定。
b、CJB548方法5008装X的7、8.9、10、11分组应省路。4.3.2纠检验
B组检验应符合GJB548方法5008的规定。不要求终点电泄试的分组可闭批中电性能不合格品作为样本。4.3.3C纠检验
C组检验应按GIB548方法5008和下述规定进行：a：终点电测试应符合本规范表2的规定。，稳态寿试验条件应符合GJR548方法1005的规定。寿命试验条件和线路见图8，Ta=11℃，试验持续时间10001
4.3.4D组检验
D组检验应符合GJB548方法5008的规定4.3.5F组检验
F组检验仅适用于有辑射加同保证要求的电路。当适用时应符合GJB597的规定，5包装
5.1包装婴求
包装要求应穿合GJB597中5.1条规定。6说明事项
6.1预定用途
符合宏规范要求药混合微电踏供新设备设计使用，并作为现有设备的后勤保障。6.2订货文件内容
合向和订货单应规定下列内容：总规范，详细规范的标胜号和目期；完整的电路编号（见云规范1.2条)；h.
电路涂税：
电路保证等级；
电路数量：
f.特殊要求。
6.3可替换性
本规范规定的混合微电路可代替功能相同的普通工业用电路，但通用工业用电路不能替代本规范规定的空用电路。
41引出端功能符号及含义
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附最A
引出端功能符号及含义
（补充件）
引出端功能符号及含义按表A1规定。Al
MUXOUT
MUXSEL
附加说明：
正电源
负电源
采样/保持控制
输出控制(负逻辑)
瀚出(单路)
公共输出
多路输出选择
本标准自中国电子技术标准化研究所归口。本标雁由电子部第四十三研究所起草。本标准主要起草人：冯佑民、王树锦、雷剑、叶国华、吴凡。计划项自代号：B11015。
TrKAONKAa-
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