【国家标准(GB)】 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第4-3部分：不确定度、统计学和限值建模 批量产品的EMC符合性确

ICS 33. 100. 20
中华人民共和国国家标准化指导性技术文件GB/Z 6113.403—2007/CISPR 16-4-3/TR:2004无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范
第 4-3部分：不确定度、统计学和限值建模批量产品的EMC符合性确定的统计考虑Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods-Part 4-3 : Uncertainties , statistics and limit modelling-Statistical considerations in the determinationof EMC compliance of mass-produced(CISPR16-4-3/TR:2004,IDT）
2007-09-05发布
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局数码防伪
中国国家标准化管理委员会
GB/Z6113.403--2007/CISPR16-4-3/TR:2004目
规范性引用文件
3术语、定义和符号
一般要求
型式试验的方法
5发射测量
5.1基于非中心t分布的试验
5.2基于二项式分布的试验
5.3基于附加的可接受限值的试验5.4在不符合情况下的附加抽样
5.5上述4种不同方法的特点
5.6符合性判据和测量设备/设施的不确定度.6抗扰度试验
6.1在抗扰度试验中CISPR80%/80%准则的应用6.2CISPR80%/80%准则的应用指南次
附录A（资料性附录）确定无线电干扰限值时的统计考虑附录B（资料性附录）
不完全样本的情况下对无线电骚扰统计参数的分析评估附录C（资料性附录）基于附加的可接受限值的试验参考文献
GB/Z6113.403—2007/CISPR16-4-3/TR：2004前言
GB/Z6113.403等同采用国际技术报告CISPR16-4-3/TR：2004《无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范第4-3部分：不确定度、统计学和限值建模批量产品的EMC符合性确定的统计考虑》(英文版），本部分的全部内容为指导性。鉴于IEC/CISPR16为电磁兼容系列基础标准，且篇幅大，内容多，为了方便标准的制定、维护和使用，2002年IEC/CISPRA分会决定对该标准的结构进行重大调整，将原来的4个分部分拆分为现在的14个分部分，2006年增至15个分部分，并从2003年11月起陆续发布。我国依据等同原则，将陆续完成相应国标的制修订工作。该系列标准中的新、旧国家标准及其与IEC/CISPR16系列标准/出版物的对应关系如下：
旧标准编号和名称
GB/T6113.1-1995
(eqvCISPR16-1:1993)
无线电骚扰和抗扰度测量设备
GB/T6113.2—1998
(eqvCISPR16-2:1996)
无线电骚扰和抗扰度测量方法
新标准编号和名称
GB/T6113.101(idtCISPR16-1-1)第1-1部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备测量仪器GB/T6113.102(idtCISPR16-1-2)第1-2部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备辅助设备——传导骚扰
GB/T 6113.103(idt CISPR16-1-3)第1-3部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备辅助设备骚扰功率
GB/T6113.104(idtCISPR16-1-4)第1-4部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备辅助设备辐射骚扰
GB/T6113.105(idtCISPR16-1-5)第1-5部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备30MHz～1000MHz天线校准场地
GB/T 6113.201(idt CISPR 16-2-1:2003)第2-1部分：无线电骚扰和抗扰度测量方法传导骚扰测量
GB/T 6113.202(idt CISPR16-2-2:2004)第2-2部分：无线电骚扰和抗扰度测量方法骚扰功率测量
GB/T6113.203(idtCISPR16-2-3:2004)第2-3部分：无线电骚扰和抗扰度测量方法辐射骚扰测量
GB/T 6113.204(idt CISPR 16-2-4:2004)第2-4部分：无线电骚扰和抗扰度测量方法抗扰度测量
GB/Z6113.403—2007/CISPR16-4-3/TR：2004旧标准编号和名称
CISPR 16-3:2000
Reports and recommendations of CISPRCISPR16-4:2002
Uncertainty in EMC measurements新标准编号和名称
GB/Z6113.3—2006(idtCISPR16-3:2003)第3部分：无线电骚扰和抗扰度测量技术报告GB/Z6113.401—2007(idtCISPR16-4-1:2003)第4-1部分：不确定度、统计学和限值建模标准化EMC试验的不确定度
GB/T6113.402—2006(idtCISPR16-4-2:2003)第4-2部分：不确定度、统计学和限值建模测量设备和设施的不确定度
GB/Z6113.403—2007(idt CISPR16-4-3:2004)第4-3部分：不确定度、统计学和限值建模批量产品的EMC符合性确定的统计考虑GB/Z6113.404—2007(idtCISPR16-4-4:2003)第4-4部分：不确定度、统计学和限值建模抱怨的统计和限值的计算模型
GB/Z6113.405(idtCISPR16-4-5:2006)*第4-5部分：不确定度、统计学和限值建模替换试验方法的使用条件
注1：*修订中**待制定；黑体字为该标准的本部分。注2：表中除GB/Z6113.403以外的国家标准名称以制定或修订后发布的标准名称为准。注3：CISPR16系列标准调整之前没有与CISPR16-3和CISPR16-4相对应的国家标准。本部分的附录A、附录B和附录C为资料性附录。本部分由全国无线电干扰标准化技术委员会（SAC/TC79)提出并归口。本部分起草单位：信息产业部电子工业标准化研究所、北京交通大学、上海电器科学研究所（集团）有限公司。
本部分主要起草人：陈俐、张林昌、闻映红、崔强、寿建霞。I
GB/Z6113.403—2007/CISPR16-4-3/TR：2004引言
本部分内容主要涉及确定批量产品电磁兼容符合性的统计考虑，其目的旨在为确定批量生产的电子及电器产品的电磁兼容符合性提供基于统计技术上的指导。本部分共分6章，其主要内容包括范围、规范性引用文件、术语、定义和符号、80%/80%准则的一般要求、发射试验中80%/80%准则应用的特定要求和抗扰度试验中80%/80%准则应用的指导。此外，附录A给出了确定无线电干扰限值的统计考虑。附录B给出了不完全样本的情况下对无线电扰统计参数的分析评估。附录C叙述了基于附加的可接受限值的试验方法的数学理论。1范围
GB/Z6113.403--2007/CISPR16-4-3/TR:2004无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范
第4-3部分：不确定度、统计学和限值建模批量产品的EMC符合性确定的统计考虑本部分论及了确定批量产品电磁兼容符合性的统计考虑。对该统计考虑的原因有：
降低干扰的目的在于使大多数合格的产品不再引起干扰；a)
CISPR(国际无线电干扰特别委员会）的限值不仅要适合单个产品的型式批准，而且要适合批b）
量生产的产品的型式批准；
必须应用统计技术以保证批量生产的产品符合CISPR的标准；c）
d）当应用到每一个国家时，对限值意义的理解应该是相同的，这一点对国际贸易是重要的；e)
参与CISPR合作的IEC的各国家委员会应努力寻求它们所在国家权威机构的认可。因此，本部分基于统计技术规定了要求并提供了指导。批量产品的电磁兼容符合性应当基于统计技术的应用，此技术必须向消费者确保所研究类型的产品的80%、以80%的置信度符合发射或抗扰度要求。第4章给出了这种所谓的80%/80%准则的一般要求。第5章给出了80%/80%准则应用于发射试验更多的特定要求。第6章给出了CISPR80%/80%准则应用于抗扰度试验的指南。80%/80%准则保护消费者不会获得不符合的产品，但是这并不表示来自于抽样的一批产品将被接受的概率。这种接受的概率对制造商是非常重要的。附录A，给出了更多关于接受概率（制造商的风险)的信息。2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T4365-2003电工术语电磁兼容（idtIEC60050（161）：1990十A1：1997十A2：1998）GB/T6113.402一2006无线电扰和抗扰度测量设备和测量方法规范第4-2部分：不确定度、统计学和限值建模测量设备和设施的不确定度（CISPR16-4-2：2003，IDT）3术语、定义和符号
GB/T4365一2003中确立的术语、定义和符号均适用于本部分。4般要求
下面有关对CISPR限值和使批量生产的产品符合该限值的统计抽样方法的解释是适用的。4.1限值
4.1.1CISPR限值是一种推荐给各国权威机构，以便纳人其国家标准、相关法规以及官方规范当中使用的限值。同时，也建议国际组织使用这些限值，4.1.2对于产品的型式批准，限值的含义是：在统计学的基础上，至少以80%的置信度、批量生产的产品至少有80%符合限值。
GB/Z6113.403—2007/CISPR16-4-3/TR:20044.2型式试验的方法
可以使用如下两种方法进行型式试验：4.2.1同类型产品样本的使用
当使用这种方法时，同类型产品样本应根据第5章（发射试验)和第6章（抗扰度试验）所叙述的方法进行统计评估。
与限值的符合性的统计评估应根据第5章和第6章所叙述的方法或根据某些其他确保符合4.1.2要求的方法进行。
4.2.2具有后续质量保证试验的单个产品的使用为简便起见，最初的型式试验只对个产品进行。然而，经常从生产过程中随机抽取产品进行跟踪试验是必要的。
4.2.3型式批准的撤销
当撤销型式批准可能引起异议的情况下，只有按照上述4.2.1在对足够的样本进行试验后，才能考虑撤销与否。
5发射测量
应按照下述5.1、5.2或5.3的三种试验之一，或者根据保证符合4.1.2要求的其他试验来作出与发射限值的符合性的统计评估。5.1基于非中心t分布的试验
该试验的样本大小应该不小于5；但是如果在特殊情况下无法获得大小为5的样本，此时样本大小可以取3。通过下式来判断是否符合限值：工,+kS.≤L
式中：
容量为n的样本电平的算术平均值（dB(μV），dB(μV/m）或者dB(pW)）；S =1/(n-1) (r-,)2
单个样本的电平(dB(μV），dB(μV/m)或者dB(pW)）。（1)
（2）
k-—-以80%的置信度认为80%的产品低于限值时，从非中心t分布表中所查得的因子；k取决于样本大小n。k与n的关系如表1所示。L—允许的限值(dB(μV),dB(μV/m)或者dB(pW))。表1系数k与样本大小n的关系
工、工、S.、L的值是用对数来表示的。6
如果由于测量设备灵敏度不够而导致样本中的一件或几件设备不能够被测量，那么用附录B叙述的方法加以解决。
5.1.1子频段试验
5.1.1.1概述
80%/80%准则应用于样本的每一个EUT在特定的频率或频率范围的特定发射。现代计算机控制的测量设备通常在完成全频段扫描后再在整个发射频谱的某些频率上测量数量有限的最高骚扰电平。因为在相同频率上的骚扰电平或（即）最高发射频率上的骚扰电平会因EUT的不同而不同，所以在样本中最高骚扰电平所对应的测量频率，通常也会随着EUT的不同而变化。因此很难在相同的频率上获得每一个EUT的骚扰测量电平来计算其平均值和标准差，这些测量结果也就不能应用80%/80%准则。基于这个原因，将整个频率范围划分成一定数量的子频段是有用的，它允许在每一子2
GB/Z6113.403-2007/CISPR16-4-3/TR:2004频段通过取最高的测量电平后再在整个频率范围内进行发射频谱的统计分析。为了在80%/80%准则中使用非中心t分布，有必要对测量值进行归一化。这样就可以使这些归一化的测量值在子频段内使用80%/80%准则，而与子频段内的限值是否变化无关。应将整个频率范围在对数频率轴上分成数个子频段。如果产品委员会规定了变化的限值，那么子频段的起止点可以对应于限值变化的频率点。注：子频段仅适用于基于非中心t分布的试验。5.1.1.2子频段的数量
建议将那些尚在考虑中的骚扰测量方法的频率范围划分成多个子频段。每一子频段的宽度作为频率的函数以对数方式减小。对于不同的骚扰测量方法，建议按以下数量划分子频段：对于骚扰电压的测量，在不超过30MHz的频率范围内至少划分成8段；一对于骚扰功率的测量，在30MHz～300MHz的频率范围内至少划分成4段；对于骚扰场强的测量，在30MHz～1000MHz的频率范围内划分成8段左右。注1：子频段数量的确定应使得骚扰特性的频率依赖性能被评估。当子频段的数量减小时，如果限值对发射平均值与标准差之和的比在子频段内不减小即可认为满足这个条件。注2：根据不同产品的骚扰特性，产品委员会应确定子频段的数量。注3：所推荐的子频段数量基于GB4343.1和GB9254的装置/设备的抽样研究。注4：子频段的过渡频率应使用下式计算：f:=fiw×10
式中：
i=1-N,f:表示第i个子频段的过渡频率；flow，fup——分别是整个频率范围的低端、高端频率；N——子频段的数量。
注5：对于主要是窄带发射，有可能通过预先检查选择那些单个的窄带发射，使用非中心t分布而无需再划分子频段。
5.1.1.3测得的骚扰电平的归一化应将子频段内测量值的平均值和标准差与限值进行比较。因为限值在整个子频段内有可能不是常量，所以测量值的归一化是必须的。为了归一化，需要确定最高测量电平所对应的特定频率f处被测电平，与限值电平L，之间的差值d。只要测量值低于限值，则差值为负。=
式中：bZxz.net
df-在特定的频率处的测量值与限值的差值(dB)；测量电平（dB(μV）、dB(pW）或dB(μV/m））；L,——在特定频率处的限值(dB(μV)、dB(pW)或dB(μV/m))。5.1.1.4基于非中心t分布的子频段试验（3）
对于每一子频段样本中所有样品的测量结果，应计算差值d，的平均值和标准差。差值的平均值是,=dr
式中：
n—所抽样的样本数量；
d—子频段内差值的平均值。
标准差由下式计算：
Z(df-d)
（4）
（5）
GB/Z6113.403—2007/CISPR16-4-3/TR:2004式中：
在子频段内的标准差。
符合性由下式作出判断：
d,+k·Sar≤o
式中：
k——见 5.1。
5.2基于二项式分布的试验
（6）
试验样本的大小应该不小于7。产品的符合性通过以下条件来判断：当样本大小为n时，骚扰电平超过限值的产品数量不大于c（见表2）。表2所允许的不符合产品数量c与样本大小n的关系n
5.3基于附加的可接受限值的试验14
该试验应在特定类型、至少5个样品上进行，假如在特殊情况下不能得到5个样品，至少也要3个样品。关于这种方法在5.5中有详细叙述。如果每一个测得的骚扰电平工；满足下式就可判定其符合限值。
T,≤AL=L-omx·ke
式中：
一可接受的限值；
允许的限值；
-产品期望的最大标准差，它是期望标准差的两倍，该值由产品技术委员会按5.3.1的步骤来确定，或者针对不同类型的骚扰测量使用以下的保守估值：骚扰电压：0max=6dB（见注1）
骚扰功率：0max=6dB（见注1）
骚扰场强：0max=××dB（见注2）注1：保守估值“6dB”是通过对大量不同类型EUT（每种类型包括3个或5个样品）的测量来确定的（骚扰电压130个、骚扰功率40个）。然后，又经过对“应用非中心t分布的试验”和“使用附加裕量试验”这两种试验方法的比较对6dB的值进行了评估。两种试验给出了相同的认可百分比。注2：骚扰场强的值正在考虑中。ke——某一“产品类”的产品的80%以80%的置信度低于限值时，从正态分布表中得到的因子；ke取决于样本大小n，具体数值见下表（相关信息见第C.1章）：n
工、L、ke和omax用对数表示，单位可为dB(μV）、dB(μV/m)或dB(pW)。注：当amx=6dB时，可以计算得到下面附加的可接受限值：抽样的数量
附加的可接受限值[dB]
5.3.1最大期望标准差的评估
骚扰发射的期望标准差应由有效数量的产品样品来确定。建议按以下程序评估最大期望标准差：对于所关注的样本，在每一个所关注的频率上或子频段内，测量得到的最大发射工；与限值L之差Tmin由下式确定：
其标准差Ssub由下式确定：
式中：
n样本中样品的数量。
GB/Z6113.403—2007/CISPR16-4-3/TR:2004Imin=(;-L)max
(min—min)2
（8）
（9）
对每个样本应确定在各个子频段内的平均标准差Ssample。期望标准差Sexpet是所有样本Ssample的平均值。
最大期望标准差是期望标准差的两倍。注：通过比较5.1“基于非中心t分布的试验”和5.3“基于附加的可接受限值的试验”这两种方法来选择因子为2。因为因子为2时，两种试验方法有相同的样品拒绝接受率。产品技术委员会可以确认其产品的期望标准差。5.4在不符合情况下的附加抽样
如果样本试验的结果不符合5.1、5.2或5.3的要求，可以对二次抽样的样本进行试验，并与第一次抽样的样本试验结果相结合，检查组合后这个较大的样本的符合性。5.3的方法仅适用于7件样品或更少样品组成的样本。
5.5上述4种不同方法的特点
对于大批量产品的符合性评估，可用的四种试验方法是：一使用单个产品；
—非中心t分布（见5.1)；
二项式分布（见5.2）；
一附加的余量（见5.3）。
上述的每一种方法都以不同的统计方法论为基础，因此制造商或权威机构在具体实施这些方法时，每一种方法都具有不同的特点（优势或缺陷）。a）使用单个产品
选择单个产品/设备来进行试验的方法由制造商采用。这种方法要求对产品进行定期检验。b)
非中心t分布
这种试验方法基于非中心t分布并包含总体服从正态分布的条件。只要满足这个条件，这种方法就能针对样本的批准给出正确的结果。但是如果一个或两个测量结果远低于限值，而其余的测量结果接近于（但低于）限值，则测量结果有可能表明该批量产品得不到批准。如果不合格是由于远低于限值的测量结果带来的大的标准差引起的，那么可以选择附加的余量试验方法来对不符合的样本进行试验。如果样本合格，则该批量产品就可获得批准。在未获得型式批准的情形下，可在较大的样本中选择更多相同批次的产品、将不合格的样品和新选择的样品进行重新组合。这种试验方法的优点是样本相对较小。c）二项式分布
这种方法仅基于二项式分布但不包含总体正态分布的条件。这种试验方法针对样本的批准与不批准均能给出正确的结果。
在未获得型式批准的情形下，可在较大的样本中选择更多相同批次的产品、将不合格的样品和新选择的样品进行重新组合。
这种试验方法的缺点是样品的数量至少要7件。附加的可接受限值
这种方法基于总体正态分布的条件和期望标准差的估值。这种试验方法对于样本的批准能5
GB/Z6113.4032007/CISPR16-4-3/TR:2004给出正确的结果。
如果不合格是由接近于限值的测量结果引起的，那么可以针对不合格的样本进行基于非中心t分布抽样的附加试验。如果样品合格，这种产品就获得通过。在未获得型式批准的情形下，可在较大的样本中选择更多相同批次的产品、将不合格的样品和新选择的样品进行重新组合。这种方法仅适用于样品数量小于7的样本。5.6符合性判据和测量设备/设施的不确定度对于产品符合性的要求包含两个部分：一个是80%/80%准则的要求，另一部分是在GB/T6113.402中规定的测量设备/设施的不确定度。因此只要满足GB/T6113.402的要求，就表明试验结果在80%/80%准则的意义上符合限值。这就意味着ULab小于或等于UcisPR。如果ULab大于UcISPR，应用80%/80%准则的测量结果必须增加一个△值：△=[ULab -UcISPR JuciSPR6.1在抗扰度试验中CISPR80%/80%准则的应用：（10）
在评估批量生产的产品和设备的抗扰度时，必须考虑CISPR抽样方案中所用的统计方法。已经有两种标准化的方法：一种使用二项式分布，另一种使用非中心t分布。利用二项式分布的方法实质上是采用计数抽样。因此，这种方法应该应用在那些抗扰度电平不能确定的抗扰度试验中；其结果只能用来判断产品或设备是否符合抗扰度标准，也就是说，试验结果只能表明产品或设备对于一个特定的抗扰度电平合格或不合格。利用非中心t分布的方法实质上是利用计量抽样。这种方法适合于抗扰度电平或者引起产品或设备性能降低的试验信号电平能够确定的抗扰度试验。在应用非中心t分布方法以前，上述的信号电平应该以对数单位来表示。
6.2CISPR80%/80%准则的应用指南6.1只给出关于如何选择在评估批量生产的产品和设备的抗扰度时使用的统计试验方法。当相关的产品技术委员会决定有必要进行统计评估时应按6.1进行。产品技术委员会也可以决定只做型式试验就足够了。
6.2.1计数抽样
在受试设备（EUT)进行抗扰度试验时，如果骚扰信号超过了抗扰度电平，EUT的敏感器件可能会受到骚扰信号的影响，使EUT遭到破坏。在这种情况下，只能进行基于“合格/不合格”或者“通过/不通过”的抗扰度试验；也就是说，试验结果只有两种可能，即EUT是否符合抗扰度限值的要求。“合格”和“不合格”都是EUT的本质属性，因此必须使用基于二项式分布的方法。基于“合格/不合格”的抗扰度试验并不定会导致对EUT的破坏。如果只用个固定的电磁骚扰电平进行试验，那么有可能只需要进行“合格/不合格”的判别。同样地，在这种情况下也要使用基于二项式分布的抽样方法。
对无线电电信设备所进行的雷电瞬态的抗扰度试验是基于“合格/不合格”并且有可能会损坏EUT的一个例子。对（数字)信息技术设备进行的静电放电抗扰度试验则是采用固定骚扰电平的例子。6.2.2计量抽样
如果EUT及其所选择的抗扰度试验允许确定抗扰度电平或性能降级的信号电平（这些电平将是可变的），那么，产品技术委员会将会决定选择计量抽样。此时，必须使用基于非中心t分布的抽样方法。
由于产品技术委员会可能总是决定采用基于“合格/不合格”的试验，上面的表述使用的是“将会决定”。另外，如果EUT具有足够的抗扰度，也许不能够确定上述电平。但是，也不排除采用计量抽样的6
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