土壤：勘察与试验 — 静力圆锥静力压入试验（CPTU）

3.2.8 Résistance de pointe totale à la base du cône q_T

Cette résistance, qui tient compte de l'action Q_u de la pression interstitielle de pénétration u sur l'espace annulaire (A_c – A_u) situé au-dessus du cône (voir figure 1) est donnée par :

q_T = Q_T / A_c

q_T = (Q_c + Q_u) / A_c

q_T = Q_c/A_c + ((A_c – A_u)u)/A_c = q_c + u(1 – a)

où :

u est la pression interstitielle générée par le forage et mesurée au niveau du filtre placé à la base du cône ;

a est soit déterminé lors d'un étalonnage en laboratoire (pour les sols faibles q_c < 1 MPa), soit pris conventionnellement égal au rapport des aires des sections transversales intérieure A_u (au-dessus de la partie cylindrique du cône) et extérieure A_c (partie cylindrique du cône) : a = A_u / A_c ;

Q_T est l'effort total sur le cône : Q_T = Q_c + Q_u ;

Q_u est la force exercée sur la partie supérieure du cône (voir figure 1) d'aire (A_c – A_u) par la pression interstitielle générée par le forage : Q_u = u (A_c – A_u) ;

A_u est l'aire de la section transversale du cône au-dessus de la partie cylindrique du cône ;

A_c est l'aire de la section transversale de la partie cylindrique du cône à sa base.

Figure 1 : Schéma de l'extrémité de la pointe

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Révision de la présente publication

Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la Commission afin d'assurer qu'il reflète bien l'état actuel de la technique.

Les renseignements relatifs à ce travail de révision, à l'établissement des éditions révisées et aux mises à jour peuvent être obtenus auprès des Comités nationaux de la CEI et en consultant les documents ci-dessous :

• Bulletin de la CEI
• Annuaire de la CEI
• Catalogue des publications de la CEI

Publié annuellement

Terminologie

En ce qui concerne la terminologie générale, le lecteur se reportera à la Publication 50 de la CEI : Vocabulaire Electrotechnique International (VEI), qui est établie sous forme de chapitres séparés traitant chacun d'un sujet défini, l'Index général étant publié séparément. Des détails complets sur le VEI peuvent être obtenus sur demande.

Les termes et définitions figurant dans la présente publication ont été soit repris du VEI, soit spécifiquement approuvés aux fins de cette publication.

Symboles graphiques et littéraux

Pour les symboles graphiques, symboles littéraux et signes d'usage général approuvés par la CEI, le lecteur consultera :

• la Publication 27 de la CEI : Symboles littéraux à utiliser en électrotechnique ;
• la Publication 617 de la CEI : Symboles graphiques pour schémas.

Les symboles et signes contenus dans la présente publication ont été soit repris des Publications 27 ou 617 de la CEI, soit spécifiquement approuvés aux fins de cette publication.

Publications de la CEI établies par le même Comité d'Etudes

L'attention du lecteur est attirée sur la page 3 de la couverture, qui énumère les publications de la CEI préparées par le Comité d'Etudes qui a établi la présente publication.

Revision of this publication

The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology.

Information on the work of revision, the issue of revised editions and amendment sheets may be obtained from IEC National Committees and from the following IEC sources :

• IEC Bulletin
• IEC Yearbook
• Catalogue of IEC Publications

Published yearly

Terminology

For general terminology, readers are referred to IEC Publication 50 : International Electrotechnical Vocabulary (IEV), which is issued in the form of separate chapters each dealing with a specific field, the General Index being published as a separate booklet. Full details of the IEV will be supplied on request.

The terms and definitions contained in the present publication have either been taken from the IEV or have been specifically approved for the purpose of this publication.

Graphical and letter symbols

For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to :

• IEC Publication 27 : Letter symbols to be used in electrical technology ;
• IEC Publication 617 : Graphical symbols for diagrams.

The symbols and signs contained in the present publication have either been taken from IEC Publications 27 or 617, or have been specifically approved for the purpose of this publication.

IEC publications prepared by the same Technical Committee

The attention of readers is drawn to the inside of the back cover, which lists IEC publications issued by the Technical Committee which has prepared the present publication.

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SOMMAIRE

TABLE DES MATIÈRES

5.2 专用设备

图 1—摩擦摆

① 摆（垫板轴长 50 厘米）

② 橡胶垫板

③ 指针

④ 标明刻度的刻度盘

⑤ 水平仪

⑥ 齿条

⑦ 摆锤水平悬挂点和起动开关

—摩擦摆（如图 1）：由一个固定摆锤的机构构成，摆锤端部带有橡胶垫板。整个这一部分重量约为 10 千克，其中主要构件有：

-- 机架：包括一个配备了⑤ 水平仪和三个可调节高度的支脚的底座；一根带⑥ 齿条的柱子。

-- 设备顶部，能沿柱子滑动，并可以通过齿条上的按钮调节高度，然后用螺栓将其位置固定。顶部还含有一个带刻度的刻度盘、指针的摩擦环和一个能通过⑦起动开关将摆锤固定在一定水平位置的装置。

ISO 657-1 : 1988 (E)

Table 1 — Dimensions and sectional properties of hot-rolled equal-leg angles (concluded)

NOTES

1. Member countries may choose, to be included in their national standards, the sizes which are required to meet their demand.
2. For the angles so chosen, only thicknesses which can be rolled in their mills to meet the demand of the users may be selected from the list of thicknesses corresponding to equal angles in table 1.
3. The sectional area has been calculated using the formula

   S = [l/2 A - l) + 0,214 6 (r_root² - 2r_toe²)] × 1/100

   where
   

   S is the sectional area, in square centimetres;
   

   l is the thickness, in millimetres;
   

   r_root is the root radius, in millimetres;
   

   r_toe is the toe radius, in millimetres;
   

   A is the leg length, in millimetres.

4. Mass is calculated on the basis of density of steel of 7,85 kg/dm³.

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