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本文件规定了4H碳化硅抛光片表面质量和微管密度的共焦点微分干涉测试方法。 本文件适用于直径为50.8 mm、76.2 mm、100 mm、150 mm、200 mm,厚度范围为300 μm~1 000 μm碳化硅抛光片的表面质量和微管密度的测试。
本文件描述了Bi-2223氧化物超导体短直样品室温双弯曲后临界电流的测试方法。样品为具有扁平或方形结构的单芯或多芯银和/或银包套超导线材。超导线材可以采用铜合金、不锈钢或镍合金带叠层封装。 本文件适用于临界电流小于300 A、n-值大于5的超导体。室温双弯曲后临界电流的测试在无外加磁场的条件下进行,
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GB/T 5252-2020.Test method for dislocation density of monocrystal germanium. 1范围 GB/T 5252规定了锗单晶位错密度的测试方法。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期
GB/T 8763-2020.Test methods for gas absorption characteristic of non-evaporation gettering materials and products. 1范围 GB/T 8763规定了真空器件用锆铝合金粉、吸气用锆铝合金环
GB/T 39042-2020.Measurement of the magnetic properties of electrical steels by means of a single sheet tester-H-coil method. 1范围 GB/T 39042规定了在工频条件下,采
GB/T 5162-2021.Metallic powders-Determination of tap density. 1范围 GB/T 5162规定了振实密度的测定方法,即粉末在规定条件下在容器中被振实后的密度。 2原理 将一定量的粉末装在容器中,通过振动装置振动,直至粉末的体积不再减少。粉末
GB/T 39864-2021.Electrochemical performance test of lithium manganese oxide-Test method for the initial specific discharge capacity and the initial ef
GB/T 40007-2021.Nanotechnology—Contacting methods for measuring the resistivity of nanomaterials—General rules. 1范围 GB/T 40007规定了纳米材料电阻率的接触式测量方法﹐包括测量原
标准号:GB/T 351-2019 标准名称:金属材料 电阻率测量方法 英文名称:Metallic materials-Resistivity measurement method 标准格式:PDF 发布时间:2019-03-25 实施时间:2020-02-01 标准大小:1.79M 标准介绍:1范
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