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SJ2657-1986 SJ 2657-1986 钼的光谱分析方法

标准编号:SJ2657-1986 整理时间:1986-01-21 浏览次数:2
资料名称: SJ2657-1986 SJ 2657-1986 钼的光谱分析方法
标准类别: 电子行业标准(SJ)
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态: 现行◎
作废日期:
发布日期: 1986-01-21◎
实施日期: 1986-10-01◎
首发日期:
复审日期:
出版日期: 1986-09-01◎
标准编号: SJ 2657-1986
标准名称: 钼的光谱分析方法
下载文件: .rar .pdf .doc
标准简介: 本标准适用于电子器件、电光源用钼材(粉、坯、杆、丝、条、带)、三氧化钼(不加添加剂)、钼酸铵及钼酸中硅、铝、铁、钙、钴、镍、锰、镁、铅、钒、锡、钛、锑、镉等元素的测定。 SJ 2657-1986 钼的光谱分析方法 SJ2657-1986 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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替代情况: SJ/Z 1320-1978(参考)
采标情况: JIS H1401-79 ГОСТ 14315-74 NEQ(参考)
发布部门: 中华人民共和国电子工业部(参考)
提出单位: (参考)
归口单位: 电子工业部标准化研究所(参考)
主管部门: (参考)
起草单位: 电子工业部741厂、774厂(参考)
起 草 人: 李忠、王进学(参考)
出 版 社:

电子工业出版社(参考)

页  数: 6页(参考)
书  号: (参考)
计划单号: (参考)
下载次数: 0次
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