【电子行业标准(SJ)】可测性总线第一部分：标准测试存取口与边界扫描结构

本网站发布时间： 1994-08-08 15:00:00

SJ/T10566-1994
现行

基本信息

标准号：
SJ/T 10566-1994
标准名称：
可测性总线第一部分：标准测试存取口与边界扫描结构
标准类别：
电子行业标准(SJ)
标准状态：
现行
发布日期：
1994-08-08
实施日期：
1994-12-01
出版语种：
简体中文
下载格式：
.rar.pdf
下载大小：
KB

标准分类号

中标分类号：
矿业>>矿业综合>>D01技术管理

关联标准

采标情况：
ANSI/IEEE 1149.1-90 NEQ

出版信息

出版社：
电子技术标准化研究
页数：
89页
标准价格：
36.0 元
出版日期：
1994-12-01

其他信息

起草人：
刘家松、邓平
起草单位：
天津大学、北京自动测试技术研究所
归口单位：
电子工业部标准化研究所
发布部门：
中华人民共和国电子工业部

标准简介/下载

点击下载

标准简介：

本标准规定了数字集成电路和模拟/数字混合集成电路的数字部分用的测试存取口(TAP)与边界扫描结构。本标准规定的测试逻辑可包含在集成电路内，由一个边界扫描寄存器和若干其它块构成，并可通过测试存取口进行存龋本标准适用于在集成电路组装在一块印制电路板或其它基底上后测试集成电路间的互连性、测试集成电路本身和在这个器件正常工作期间观测或修改电路的动作。 SJ/T 10566-1994 可测性总线第一部分：标准测试存取口与边界扫描结构 SJ/T10566-1994 标准下载解压密码：www.bzxz.net

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