【国家标准(GB)】 半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则

本网站 发布时间: 2006-08-23 15:00:00
  • GB/T4937.1-2006
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 4937.1-2006

  • 标准名称:

    半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则

  • 标准类别:

    国家标准(GB)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    2006-08-23
  • 实施日期:

    2007-02-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    KB

标准分类号

  • 标准ICS号:

    电子学>>31.080半导体器件
  • 中标分类号:

    电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合

关联标准

出版信息

  • 出版社:

    中国标准出版社
  • 页数:

    6页
  • 标准价格:

    8.0 元
  • 出版日期:

    2007-02-01
  • 计划单号:

    20030194-T-339

其他信息

  • 首发日期:

    1985-02-06
  • 起草人:

    陈海蓉、崔波
  • 起草单位:

    中国电子科技集团公司第十三研究所
  • 归口单位:

    全国半导体器件标准化技术委员会
  • 提出单位:

    中华人民共和国信息产业部
  • 发布部门:

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
  • 主管部门:

    信息产业部(电子)
标准简介标准简介/下载

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标准简介:

本部分代替GB/T 4937-1995《半导体器件 机械和气候试验方法》第Ⅰ篇总则。本部分适用于半导体器件(分立器件和集成电路)并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。 GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则 GB/T4937.1-2006 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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