资料名称: | GB/T4937.1-2006 GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则 |
标准类别: | 国家标准(GB) |
语 言: | 简体中文 | ||
授权形式: | 免费下载 | ||
标准状态: | 现行 | ||
作废日期: | ◎ | ||
发布日期: | 2006-08-23 | ||
实施日期: | 2007-02-01 | ||
首发日期: | 1985-02-06 | ||
复审日期: | ◎ | ||
出版日期: | 2007-02-01 |
标准编号: | GB/T 4937.1-2006 | |
标准名称: | 半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则 | |
下载文件: | .rar .pdf .doc | |
标准简介: | 本部分代替GB/T 4937-1995《半导体器件 机械和气候试验方法》第Ⅰ篇总则。本部分适用于半导体器件(分立器件和集成电路)并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。 GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验 第1部分:总则 GB/T4937.1-2006 标准下载解压密码:www.bzxz.net | |
链接地址: | 点击下载 | |
替代情况: | 替代GB/T 4937-1995(参考) | |
采标情况: | IEC 60749-1:2002(参考) | |
发布部门: | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会(参考) | |
提出单位: | 中华人民共和国信息产业部(参考) | |
归口单位: | 全国半导体器件标准化技术委员会(参考) | |
主管部门: | 信息产业部(电子)(参考) | |
起草单位: | 中国电子科技集团公司第十三研究所(参考) | |
起 草 人: | 陈海蓉、崔波(参考) | |
出 版 社: | 中国标准出版社(参考) |
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页 数: | 6页(参考) | |
书 号: | (参考) | |
计划单号: | 20030194-T-339(参考) | |
下载次数: | 41次 |