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【电子行业标准(SJ)】 决绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法
本网站 发布时间:
2002-10-30 16:00:00
- SJ20844-2002
- 现行
标准号:
SJ 20844-2002
标准名称:
决绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
2002-10-30 -
实施日期:
2003-03-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
KB
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标准简介:
本标准规定了半绝缘砷化镓晶片中电阻率、碳浓度、EL2浓度和PL谱微区均匀性测量方法。本标准适用于半绝缘砷化镓晶片中电阻率、碳浓度、EL2浓度和PL谱微区均匀性的测试。 SJ 20844-2002 决绝缘砷化镓单晶微区均匀性测试方法 SJ20844-2002 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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