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【电子行业标准(SJ)】 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
本网站 发布时间:
2000-12-28 16:00:00
- SJ/T10741-2000
- 现行
标准号:
SJ/T 10741-2000
标准名称:
半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
标准类别:
电子行业标准(SJ)
标准状态:
现行-
发布日期:
2000-12-28 -
实施日期:
2001-03-01 出版语种:
简体中文下载格式:
.rar.pdf下载大小:
KB
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标准简介:
本规范规定了半导体集成电路CMOS电路(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。本规范适用于半导体集成电路集成电路CMOS电路电特性的测试。 SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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