【电子行业标准(SJ)】 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理

本网站 发布时间: 2000-12-28 16:00:00
  • SJ/T10741-2000
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    SJ/T 10741-2000

  • 标准名称:

    半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理

  • 标准类别:

    电子行业标准(SJ)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    2000-12-28
  • 实施日期:

    2001-03-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    KB

标准分类号

  • 标准ICS号:

    电子学>>31.200集成电路、微电子学
  • 中标分类号:

    电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合

关联标准

出版信息

  • 出版社:

    电子工业出版社
  • 页数:

    37页
  • 标准价格:

    28.0 元
  • 出版日期:

    2001-02-01

其他信息

  • 起草人:

    李燕荣、孙人杰
  • 起草单位:

    中国电子技术标准化研究所
  • 归口单位:

    中国电子技术标准化研究所
  • 提出单位:

    中华人民共和国信息产业部
  • 发布部门:

    中华人民共和国信息产业部
标准简介标准简介/下载

点击下载

标准简介:

本规范规定了半导体集成电路CMOS电路(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。本规范适用于半导体集成电路集成电路CMOS电路电特性的测试。 SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 标准下载解压密码:www.bzxz.net
  • 推荐标准
  • 电子行业标准(SJ)标准计划
设为首页 - 收藏本站 - - 返回顶部
请牢记:“bzxz.net”即是“标准下载”四个汉字汉语拼音首字母与国际顶级域名“.net”的组合。 ©2009 标准下载网 www.bzxz.net 本站邮件:[email protected]
网站备案号:湘ICP备2023016450号-1