资料名称: | GB/T17473.2-1998 GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定 |
标准类别: | 国家标准(GB) |
语 言: | 简体中文 | ||
授权形式: | 免费下载 | ||
标准状态: | 已作废 | ||
作废日期: | 2008-09-01 | ||
发布日期: | 1998-08-19 | ||
实施日期: | 1999-03-01 | ||
首发日期: | 1998-08-19 | ||
复审日期: | 2004-10-14 | ||
出版日期: | 2004-04-15 |
标准编号: | GB/T 17473.2-1998 | |
标准名称: | 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定 | |
下载文件: | .rar .pdf .doc | |
标准简介: | 本标准规定了贵金属浆料细度的刮板试验方法。本标准适用于贵金属浆料细度测定。非贵金属浆料的细度测定亦可参照使用。 GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定 GB/T17473.2-1998 标准下载解压密码:www.bzxz.net | |
链接地址: | 点击下载 | |
替代情况: | 被GB/T 17473.2-2008代替(参考) | |
采标情况: | (参考) | |
发布部门: | 国家质量技术监督局(参考) | |
提出单位: | (参考) | |
归口单位: | 全国有色金属标准化技术委员会(参考) | |
主管部门: | 中国有色金属工业协会(参考) | |
起草单位: | 昆明贵金属研究所(参考) | |
起 草 人: | (参考) | |
出 版 社: | 中国标准出版社(参考) |
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页 数: | 平装16开, 页数:5, 字数:4千字(参考) | |
书 号: | 155066.1-15490(参考) | |
计划单号: | (参考) | |
下载次数: | 13次 |