资料名称: | SJ20788-2000 SJ 20788-2000 半导体二极管热阻抗测试方法 |
标准类别: | 电子行业标准(SJ) |
语 言: | 简体中文 | ||
授权形式: | 免费下载 | ||
标准状态: | 现行 | ||
作废日期: | ◎ | ||
发布日期: | 2000-10-20 | ||
实施日期: | 2000-10-20 | ||
首发日期: | ◎ | ||
复审日期: | ◎ | ||
出版日期: | 2000-10-20 |
标准编号: | SJ 20788-2000 | |
标准名称: | 半导体二极管热阻抗测试方法 | |
下载文件: | .rar .pdf .doc | |
标准简介: | 本标准规定了半导体二极管的稳态热阻和瞬态热阻抗的测试方法。本标准适用于整流二极管、瞬态电压抑制二极管、功率齐纳二极管和某些齐纳、信号和开关二极管稳态热阻抗的测试。 SJ 20788-2000 半导体二极管热阻抗测试方法 SJ20788-2000 标准下载解压密码:www.bzxz.net | |
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替代情况: | (参考) | |
采标情况: | (参考) | |
发布部门: | 中华人民共和国信息产业部(参考) | |
提出单位: | (参考) | |
归口单位: | 中国电子技术标准化研究所(参考) | |
主管部门: | (参考) | |
起草单位: | 中国电子技术标准化研究所(参考) | |
起 草 人: | 王长福、顾振球、易本健(参考) | |
出 版 社: | 工业电子出版社(参考) |
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页 数: | 14页(参考) | |
书 号: | (参考) | |
计划单号: | (参考) | |
下载次数: | 28次 |