【国家标准(GB)】 金属氧化物半导体气敏元件测试方法

本网站 发布时间: 1995-07-24 15:00:00
  • GB/T15653-1995
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 15653-1995

  • 标准名称:

    金属氧化物半导体气敏元件测试方法

  • 标准类别:

    国家标准(GB)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    1995-07-24
  • 实施日期:

    1996-04-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    KB

标准分类号

  • 标准ICS号:

    电子学>>31.020电子元件综合
  • 中标分类号:

    电子元器件与信息技术>>电子元件>>L15敏感元器件及传感器

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出版信息

  • 出版社:

    中国标准出版社
  • 页数:

    平装16开, 页数:12, 字数:19千字
  • 标准价格:

    10.0 元

其他信息

  • 首发日期:

    1995-07-24
  • 复审日期:

    2004-10-14
  • 起草单位:

    电子工业部标准化研究所
  • 归口单位:

    信息产业部(电子)
  • 发布部门:

    国家技术监督局
  • 主管部门:

    信息产业部(电子)
标准简介标准简介/下载

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标准简介:

本标准规定了金属氧化物半导体气敏件性能参数测试方法的基本原理,没有规定这些方法在实际使用时的技术细节,测试时可按相应的详细规范的规定进行。本标准适用于金属氧化物半导体气敏件性能参数的测试,其他气敏件亦可参照使用。 GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法 GB/T15653-1995 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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