【国家标准(GB)】 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法

本网站 发布时间: 1993-01-02 16:00:00
  • GB/T14863-1993
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 14863-1993

  • 标准名称:

    用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法

  • 标准类别:

    国家标准(GB)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    1993-01-02
  • 实施日期:

    1994-10-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    KB

标准分类号

  • 标准ICS号:

    29.040.30
  • 中标分类号:

    电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L41半导体二极管

关联标准

出版信息

  • 出版社:

    中国标准出版社
  • 页数:

    平装16开, 页数:12, 字数:19千字
  • 标准价格:

    10.0 元

其他信息

  • 首发日期:

    1993-12-30
  • 复审日期:

    2004-10-14
  • 起草单位:

    机械电子工业部所和所
  • 归口单位:

    信息产业部(电子)
  • 发布部门:

    国家技术监督局
  • 主管部门:

    信息产业部(电子)
标准简介标准简介/下载

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标准简介:

本标准规定了用栅控和非栅控二极管的电压?电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的原理、仪器与材料、样品制备、测量步骤和数据处理。本标准适用于外延层厚度不小于某一最小厚度值(见附录B)的相同或相反导电类型衬底上的n型或p型外延层,也适用于体材料。 GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法 GB/T14863-1993 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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