【国家标准(GB)】 硅片径向电阻率变化的测量方法

本网站 发布时间: 2007-12-18 16:00:00
  • GB/T11073-2007
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 11073-2007

  • 标准名称:

    硅片径向电阻率变化的测量方法

  • 标准类别:

    国家标准(GB)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    2007-12-18
  • 实施日期:

    2008-02-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    KB

标准分类号

  • 标准ICS号:

    冶金>>金属材料试验>>77.040.01金属材料试验综合
  • 中标分类号:

    冶金>>金属化学分析方法>>H17半金属及半导体材料分析方法

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出版信息

  • 出版社:

    中国标准出版社
  • 页数:

    16页
  • 标准价格:

    16.0 元
  • 出版日期:

    2008-02-01
  • 计划单号:

    20031799-T-610

其他信息

  • 首发日期:

    1989-03-31
  • 起草人:

    梁洪、覃锐兵、王炎
  • 起草单位:

    峨嵋山半导体材料厂
  • 归口单位:

    全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
  • 提出单位:

    中国有色金属工业协会
  • 发布部门:

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
  • 主管部门:

    中国有色金属工业协会
标准简介标准简介/下载

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标准简介:

本标准规定了用直排四探针法测量硅片径向电阻率变化的方法。 GB/T 11073-2007 硅片径向电阻率变化的测量方法 GB/T11073-2007 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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