【国家标准(GB)】 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法

本网站 发布时间: 2008-12-11 16:00:00
  • GB/T22572-2008
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 22572-2008

  • 标准名称:

    表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法

  • 标准类别:

    国家标准(GB)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    2008-12-11
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    KB

标准分类号

  • 标准ICS号:

    化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析
  • 中标分类号:

    化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法

关联标准

  • 采标情况:

    IDT ISO 20341:2003

出版信息

  • 出版社:

    中国标准出版社
  • 书号:

    155066·1-35762
  • 页数:

    8页
  • 标准价格:

    10.0 元
  • 出版日期:

    2009-03-01
  • 计划单号:

    20071058-T-469

其他信息

  • 首发日期:

    2008-12-11
  • 起草人:

    马农农、何友琴、何秀坤
  • 起草单位:

    信息产业部专用材料质量监督检验中心
  • 归口单位:

    全国微束分析标准化技术委员会
  • 提出单位:

    全国微束分析标准化技术委员会
  • 发布部门:

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
  • 主管部门:

    国家标准化管理委员会
标准简介标准简介/下载

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标准简介:

本标准详细说明了在SIMS深度剖析中,用多δ层参考物质评估前沿衰变长度、后沿衰变长度和高斯展宽三个深度分辨参数的步骤。由于样品表面的物理和化学态受一次入射离子影响而不稳定,本标准不适用于近表面区域的δ层。 GB/T 22572-2008 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法 GB/T22572-2008 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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