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GB/T17473.1-2008 GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定

标准编号:GB/T17473.1-2008 整理时间:2008-03-31 浏览次数:39
资料名称: GB/T17473.1-2008 GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
标准类别: 国家标准(GB)
语  言: 简体中文
授权形式: 免费下载
标准状态: 现行◎
作废日期:
发布日期: 2008-03-31◎
实施日期: 2008-09-01◎
首发日期: 1998-08-19◎
复审日期:
出版日期: 2008-06-01◎
标准编号: GB/T 17473.1-2008
标准名称: 微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
下载文件: .rar .pdf .doc
标准简介: 本部分规定了微电子技术用贵金属浆料中固体含量的测试方法。本部分适用于各种烧结型和固化型微电子技术用贵金属浆料固体含量的测定。 本部分代替GB/T17473.1—1998《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定》。本部分与GB/T17473.1—1998相比,主要有如下变动:———将原标准名称修改为微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定;———删除了引用文件GB/T2421—1989;———本部分增加了聚合物低温固化型浆料的固体含量测定内容;———对于聚合物低温固化浆料,根据浆料使用温度的不同来确定检测固体含量的温度;———浆料平行取样由两份增加为三份;———删除了中温烧成浆料的内容,将高温烧成浆料改为烧结型浆料;———试料相互之间测试值之差不大于平均值的1%测定结果有效。 GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定 GB/T17473.1-2008 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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替代情况: 替代GB/T 17473.1-1998(参考)
采标情况: (参考)
发布部门: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会(参考)
提出单位: 中国有色金属工业协会(参考)
归口单位: 全国有色金属标准化技术委员会(参考)
主管部门: 中国有色金属工业协会(参考)
起草单位: 贵研铂业股份有限公司(参考)
起 草 人: 陈一、张骏、朱武勋(参考)
出 版 社:

中国标准出版社(参考)

页  数: 4页(参考)
书  号: 155066·1-31520(参考)
计划单号: 20062653-T-610(参考)
下载次数: 8次
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