【国家标准(GB)】 半导体探测器X射线能谱仪通则

本网站 发布时间: 2006-12-25 16:00:00
  • GB/T20726-2006
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 20726-2006

  • 标准名称:

    半导体探测器X射线能谱仪通则

  • 标准类别:

    国家标准(GB)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    2006-12-25
  • 实施日期:

    2007-08-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    KB

标准分类号

  • 标准ICS号:

    化工技术>>分析化学>>71.040.99有关化学分析方
  • 中标分类号:

    仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器

关联标准

  • 采标情况:

    等同ISO 15632-2002

出版信息

  • 出版社:

    中国标准出版社
  • 页数:

    平装16开 页数:11, 字数:14千字
  • 标准价格:

    14.0 元
  • 出版日期:

    2007-08-01
  • 计划单号:

    20030762-T-469

其他信息

  • 首发日期:

    2006-12-25
  • 起草单位:

    中国科学院地质与地球物理研究所
  • 归口单位:

    全国微束分析标准化技术委员会
  • 发布部门:

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
  • 主管部门:

    国家标准化管理委员会
标准简介标准简介/下载

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标准简介:

本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪特性最重要的量值。 GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则 GB/T20726-2006 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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