资料名称: | YS/T679-2008 YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法 |
标准类别: | 有色金属行业标准(YS) |
语 言: | 简体中文 | ||
授权形式: | 免费下载 | ||
标准状态: | 现行 | ||
作废日期: | ◎ | ||
发布日期: | 2008-03-12 | ||
实施日期: | 2008-09-01 | ||
首发日期: | ◎ | ||
复审日期: | ◎ | ||
出版日期: | 2008-05-01 |
标准编号: | YS/T 679-2008 | |
标准名称: | 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法 | |
下载文件: | .rar .pdf .doc | |
标准简介: | 本标准适用于非本征单晶半导体材料样品或相同导电类型重掺衬底上沉积已知电阻率的同质外延层中的少数载流子扩散长度的测量。要求样品或外延层厚度大于4倍的扩散长度。 本标准修改采用SEMI MF 391-1106《非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法》。本标准与SEMI MF 391-1106相比主要有如下变化:———标准格式按GB/T 1.1要求编排;———将SEMI MF 391-1106中的部分注转换为正文;———将SEMI MF 391-1106中部分内容进行了编排。 YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法 YS/T679-2008 标准下载解压密码:www.bzxz.net | |
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替代情况: | (参考) | |
采标情况: | MOD SEMI MF 391-1106(参考) | |
发布部门: | 国家发展和改革委员会(参考) | |
提出单位: | 全国有色金属标准化技术委员会(参考) | |
归口单位: | 全国有色金属标准化技术委员会(参考) | |
主管部门: | (参考) | |
起草单位: | 有研半导体材料股份有限公司(参考) | |
起 草 人: | 孙燕、卢立延、杜娟、李俊峰、翟富义(参考) | |
出 版 社: | 中国标准出版社(参考) |
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页 数: | 16页(参考) | |
书 号: | 155066·2-18659(参考) | |
计划单号: | (参考) | |
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