【有色金属行业标准(YS)】 外延钉缺陷的检验方法

本网站 发布时间: 1992-03-09 16:00:00
  • YS/T24-1992
  • 现行

基本信息

  • 标准号:

    YS/T 24-1992

  • 标准名称:

    外延钉缺陷的检验方法

  • 标准类别:

    有色金属行业标准(YS)

  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    1992-03-09
  • 实施日期:

    1993-01-01
  • 出版语种:

    简体中文
  • 下载格式:

    .rar.pdf
  • 下载大小:

    KB

标准分类号

  • 标准ICS号:

    电气工程>>29.045半导体材料
  • 中标分类号:

    冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合

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出版信息

  • 页数:

    2页
  • 标准价格:

    8.0 元
  • 出版日期:

    1993-01-01

其他信息

  • 起草人:

    施海青、金胜祖
  • 起草单位:

    L海有色金属研究所
  • 提出单位:

    中国有色金属工业总公司标准计量研究所
  • 发布部门:

    中国有色金属工业总公司
标准简介标准简介/下载

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标准简介:

本标 准 规 定了外延钉缺陷的检验方法本标 准 适 用于任何直径与晶向的硅外延片上高度不小于4,u m 的钉缺陷存在与否的判断。如果钉缺陷比少且 彼此不相连,本标准可用十钉缺陷的汁数。本标 准 不 能测量钉缺陷的高度 YS/T 24-1992 外延钉缺陷的检验方法 YS/T24-1992 标准下载解压密码:www.bzxz.net
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