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电子行业标准(SJ)
SJ 2364-1983 3CD164型、3CD364型PNP硅低压低频大功率三极管
1983-08-19
SJ 2363-1983 3CD162、3CD362型PNP硅低压低频大功率三极管
1983-08-19
SJ 2362-1983 3CD159、3CD160型PNP硅低压低频大功率三极管
1983-08-19
SJ 2361-1983 3CD157、3CD158、3CD357型PNP硅低压低频大功率三极管
1983-08-19
SJ 2360-1983 3CD155、3CD156、3CD355型PNP硅低压低频大功率三极管
1983-08-19
SJ 2359-1983 3CD153、3CD154、3CD353型PNP硅低压低频大功率三极管
1983-08-19
SJ 2358-1983 3CD151、3CD152、3CD351型PNP硅低压低频大功率三极管
1983-08-19
SJ 2357-1983 3CD149、3CD150、3CD349型PNP硅低压低频大功率三极管
1983-08-19
SJ 2356-1983 3CD347型PNP硅低压低频大功率三极管
1983-08-15
SJ 2355.7-1983 半导体发光器件测试方法 发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法
1983-08-15
SJ 2355.6-1983 半导体发光器件测试方法 光通量的测试方法
1983-08-15
SJ 2355.5-1983 半导体发光器件测试方法 法向光强和半强度角的测试方法
1983-08-15
SJ 2355.4-1983 半导体发光器件测试方法 结电容的测试方法
1983-08-15
SJ 2355.3-1983 半导体发光器件测试方法 反向电流的测试方法
1983-08-15
SJ 2355.2-1983 半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法
1983-11-25
SJ 2355.1-1983 半导体发光器件测试方法 总则
1983-08-15
SJ 2354.14-1983 PIN、雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法
1983-08-15
SJ 2354.13-1983 PIN、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
1983-08-15
SJ 2354.12-1983 PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法
1983-08-15
SJ 2354.11-1983 PIN、雪崩光电二极管列阵音区宽度的测试方法
1983-08-15
SJ 2354.10-1983 PIN、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法
1983-08-15
SJ 2354.9-1983 PIN、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法
1983-08-15
SJ 2354.8-1983 PIN、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法
1983-08-15
SJ 2354.7-1983 PIN、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法
1983-08-15
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